Výsledky vyhledávání
- 1.0534763 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Ramazanov, S. - Sobola, D. - Orudzhev, F. - Knápek, Alexandr - Polčák, J. - Potoček, M. - Kašpar, P. - Dallaev, R.
Surface Modification and Enhancement of Ferromagnetism in BiFeO3 Nanofilms Deposited on HOPG.
Nanomaterials. Roč. 10, č. 10 (2020), č. článku 1990. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: BiFeO3 * atomic layer deposition * perovskite structure * graphite surface * ferromagnetic properties
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/10/1990
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0312937 - 2.0525529 - ÚPT 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Materna Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Paták, Aleš - Polčák, J. - Sluyterman, S. - Lejeune, M. - Konvalina, Ivo
Low-energy electron microscopy of graphene outside UHV: electron-induced removal of PMMA residues used for graphene transfer.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 241, MAY (2020), č. článku 146873. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * PMMA * slow electron treatment * XPS * Raman spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.957, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204818302068
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309642 - 3.0397640 - ÚPT 2014 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Eliška - Polčák, J. - Sobota, Jaroslav - Müllerová, Ilona - Peřina, Vratislav - Caha, O.
Humidity resistant hydrogenated carbon nitride films.
Applied Surface Science. Roč. 275, 15 June (2013), s. 7-13. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:61389005
Klíčová slova: thin films * corrosion behanior * delamination * stress
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; BH - Optika, masery a lasery (UJF-V)
Impakt faktor: 2.538, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227817