Výsledky vyhledávání
- 1.0481591 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Polčák, J. - Paták, Aleš - Lejeune, M.
Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 618-619. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low voltage SEM/STEM * 2D crystals * contamination
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277164 - 2.0386447 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Hüger, E. - Urbánek, Michal - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of SiCN thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
[Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SiCN thin films * sillicon substrate * scanning low energy electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215745 - 3.0350672 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Mikmeková, Šárka - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of thermal treated thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 69-70. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: thin films * SLEEM * Si substrate
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350672_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190612