Výsledky vyhledávání
- 1.0350672 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Mikmeková, Šárka - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of thermal treated thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 69-70. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: thin films * SLEEM * Si substrate
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350672_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190612 - 2.0350671 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Urbánek, Michal - Kolařík, Vladimír - Král, Stanislav - Dvořáková, Marie
Determination of proximity effect forward scattering range parameter in e-beam lithography.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 67-68. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron beam lithography * proximity effect
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350671_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190611 - 3.0350670 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš
Properties of Bi LMIS with ion clusters.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 57-58. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant ostatní: EC 7FP(XE) NMP4-SE-2008-200613
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Zdroj financování: R - rámcový projekt EK
Klíčová slova: SIMS * liquid–metal ion sources (LMIS) * discrete coulomb interactions (DCI)
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350670_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190610 - 4.0350669 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Mapping the local density of states above vacuum level by very low energy electron reflectivity.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 53-54. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: local density of states * scanning tunneling spectroscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350669_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190609 - 5.0350668 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 49-52. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ray tracing * aberration coefficients * intensity distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350668_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190608 - 6.0350667 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Transmission mode in scanning low enery electron microscope.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 41-42. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens * SEM * transmitted electron mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350667_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190607 - 7.0350665 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 37-38. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * transmission electron microscopy * focused ion beam microscopy * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350665_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190605 - 8.0350664 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Imaging of dopants under presence of surface ad-layers.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 35-36. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * semiconductor structures * image contrast * dopant concentration * secondary electron emission
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350664_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190604 - 9.0350663 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matsuda, K. - Mizutani, M. - Nishimura, K. - Kawabata, T. - Hishinuma, Y. - Aoyama, S. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Ikeno, S.
Superconductive property and microstructure of MgB2/Al composite materials.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 33-34. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * SLEEM * microstructure contrast * composite materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350663_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190603 - 10.0350662 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Rek, Antonín - Mika, Filip - Fořt, Tomáš - Matějková, Jiřina
Comparison of techniques for diffraction grating topography analysis.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 29-32. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Atomic Force Microscopy * AEM * Scanning Electron Microscopy * SEM * topography imaging
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350662_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190602