Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0389163 - FZÚ 2013 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Majzik, Zsolt - Setvín, Martin - Bettac, A. - Feltz, A. - Cháb, Vladimír - Jelínek, Pavel
    Simultaneous current, force and dissipation measurements on the Si(111) 7x7 surface with an optimized qPlus AFM/STM technique.
    Beilstein Journal of Nanotechnology. Roč. 3, March (2012), s. 249-259. ISSN 2190-4286. E-ISSN 2190-4286
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905; GA MŠMT(CZ) ME10076
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * STM * cross-talk * specific-site force spectroscopy * atomic resolution
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 2.374, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218060
     
     
  2. 2.
    0386566 - FZÚ 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Yurtsever, A. - Fernandez-Torre, D. - González, C. - Jelínek, Pavel - Pou, P. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Pérez, R. - Morita, S.
    Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy.
    Physical Review. B. Roč. 85, č. 12 (2012), "125416-1"-"125416-9". ISSN 1098-0121
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10076
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: DFT * AFM * force spectroscopy * atomic resolution
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.767, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215860
     
     
  3. 3.
    0374985 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Ondráček, Martin - González, C. - Jelínek, Pavel
    Reversal of atomic contrast in scanning probe microscopy on (111) metal surfaces.
    Journal of Physics-Condensed Matter. Roč. 24, 08 (2012), 084003/1-084003/7. ISSN 0953-8984. E-ISSN 1361-648X
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR GA202/09/0545; GA MŠMT(CZ) ME10076
    Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: atomic force microscopy * metallic surfaces * atomic contrast * scanning tunneling microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 2.355, rok: 2012
    http://iopscience.iop.org/0953-8984/24/8/084003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207769
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.