Výsledky vyhledávání
- 1.0425800 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
Controlling electrostatic charging of nanocrystalline diamond at nanoscale.
Langmuir. Roč. 29, č. 23 (2013), s. 7111-7117. ISSN 0743-7463
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA ČR GAP108/12/0996
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic force microscope * nanoparticles * films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 4.384, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231585 - 2.0395395 - ÚMCH 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Yameen, B. - Rodriguez-Emmenegger, C. - Preuss, C. M. - Pop-Georgievski, Ognen - Verveniotis, Elisseos - Trouillet, V. - Rezek, Bohuslav - Barner-Kowollik, C.
A facile avenue to conductive polymer brushes via cyclopentadiene-maleimide Diels-Alder ligation.
Chemical Communications. Roč. 49, č. 77 (2013), s. 8623-8625. ISSN 1359-7345. E-ISSN 1364-548X
Grant CEP: GA ČR GBP205/12/G118; GA ČR GAP108/11/1857; GA ČR(CZ) GBP108/12/G108
Institucionální podpora: RVO:61389013 ; RVO:68378271
Klíčová slova: conductive poly(3-hexylthiophen) brushes * Diels-Alder ligation * Kelvin Probe Force Microscopy (KFM)
Kód oboru RIV: CD - Makromolekulární chemie
Impakt faktor: 6.718, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0223799 - 3.0390085 - FZÚ 2013 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
Charged micro-patterns on nanocrystalline diamond are well defined by electrical current application.
Acta Universitatis Carolinae. Mathematica et Physica. Roč. 53, č. 2 (2012), s. 61-67. ISSN 0001-7140
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA ČR GAP108/12/0996
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * thin films * electrostatic charging * AFM * KFM
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218982 - 4.0389069 - FZÚ 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Ižák, Tibor - Kromka, Alexander - Babchenko, Oleg - Ledinský, Martin - Hruška, Karel - Verveniotis, Elisseos
Comparative study on dry etching of polycrystalline diamond thin films.
Vacuum. Roč. 86, č. 6 (2012), s. 799-802. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR(CZ) IAAX00100902; GA AV ČR(CZ) KAN400480701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: polycrystalline diamond * reactive ion etching * smoothing * diamond nanorods
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.530, rok: 2012
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0042207X11002612
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0217970 - 5.0386473 - FZÚ 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav
How nanocrystalline diamond films become charged in nanoscale.
Diamond and Related Materials. Roč. 24, č. 4 (2012), s. 39-43. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR GAP204/10/0212
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * local electrostatic charging * nanoparticle assembly * CS-AFM * KFM
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.709, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215767 - 6.0383786 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan - Rezek, Bohuslav
Generating ordered Si nanocrystals via atomic force microscopy.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), 2118–2121. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * CS-AFM * a-Si:H * electric crystallization * nickel
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.597, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213623 - 7.0377642 - FZÚ 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Babchenko, Oleg - Verveniotis, Elisseos - Hruška, Karel - Ledinský, Martin - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
Direct growth of sub-micron diamond structures.
Vacuum. Roč. 86, č. 6 (2012), s. 693-695. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR(CZ) IAAX00100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: diamond structuring * electron beam lithography * selected-area deposition
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.530, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0209745 - 8.0375020 - FZÚ 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Ledinský, Martin - Čermák, Jan - Rezek, Bohuslav
Guided assembly of nanoparticles on electrostatically charged nanocrystalline diamond thin films.
Nanoscale Research Letters. Roč. 6, Feb. (2011), 144/1-144/6. ISSN 1931-7573. E-ISSN 1556-276X
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * oxygen-terminated diamond * hydrogen-terminated diamond * electrostatic charging * self-assembly process
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.726, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207797 - 9.0373608 - FZÚ 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Rezek, Bohuslav - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
Impact of AFM-induced nano-pits in a-Si:H films on silicon crystal growth.
Nanoscale Research Letters. Roč. 6, Feb. (2011), 145/1-145/6. ISSN 1931-7573. E-ISSN 1556-276X
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: field-enhanced metal-induced solid phase crystallization (FE-MISPC) * silicon nanocrystals * material conductivity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.726, rok: 2011
http://www.nanoscalereslett.com/content/6/1/145
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0206690 - 10.0354945 - FZÚ 2011 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Verveniotis, Elisseos - Rezek, Bohuslav - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon.
Thin Solid Films. Roč. 518, č. 21 (2010), s. 5965-5970. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: amorphous materials * atomic force microscopy (AFM) * conductivity * crystallization * nanostructures * silicon * nickel
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.909, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0193834