Výsledky vyhledávání
- 1.0337581 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Nikl, Martin - Sato, H. - Mihóková, Eva - Mabuchi, C. - Nawata, T. - Yoshikawa, A. - Pejchal, Jan - Kawaguchi, N. - Ishizu, S. - Fukuda, K. - Suyama, T.
Factors affecting the transmission and stability in complex fluorides in VUV spectral region.
[Parametry ovlivňující transmisi a stabilitu komplexních fluoridů ve vakuové UV oblasti.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610S/1-73610S/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100802; GA MŠMT ME 953
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: single crystal * fluorides * color centres * VUV * UV and visible transmittance * radiation damage
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://dx.doi.org/10.1117/12.822558
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181543 - 2.0336016 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Margarone, Daniele - Kozlová, Michaela - Nejdl, Jaroslav - Rus, Bedřich - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Jamelot, G. - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Ros, D. - Bercegol, H. - Danson, C. - Hawkes, S.
Laser-induced damage studies in optical elements using x-ray laser interferometric microscopy.
[Studium laserem uměle výtvořených poškození optických elementů pomocí RTG laserové mikroskopické interferometrie.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610N/1-73610N/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 7E08099; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * XUV interferometric microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.823302
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180347 - 3.0336007 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Cihelka, Jaroslav - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Rosmej, F.B. - Renner, Oldřich - Saksl, K. - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Galtier, E. - Schott, R. - Khorsand, A.R. - Riley, D. - Dzelzainis, T. - Nelson, A. - Lee, R. W. - Heimann, P. - Nagler, B. - Vinko, S. - Wark, J. - Whitcher, T. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Fäustlin, R. - Wabnitz, H. - Bajt, S. - Chapman, H. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. - Hau-Riege, S. - London, R.A. - Kuba, J. - Stojanovic, N. - Sokolowski-Tinten, K. - Gleeson, A.J. - Störmer, M. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Timneanu, N.
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser.
[Optická emisní spektroskopie různých materiálů ozářených rentgenovým laserem s volnými elektrony.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: optical emission spectroscopy * free-electron laser * atomic lines * plasma plume * warm dense matter
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180339 - 4.0336002 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bajt, S. - Chapman, H.N. - Nelson, A.J. - Lee, R. W. - Toleikis, S. - Mirkarimi, P. - Alameda, J.B. - Baker, S. L. - Vollmer, H. - Graff, R.T. - Aquila, A. - Gullikson, E.M. - Meyer Ilse, J. - Spiller, E.A. - Krzywinski, J. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Hajdu, J. - Tschentscher, T.
Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam.
[Mikrofokusace svazku měkkého rentgenového laseru s volnými elektrony.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610J/1-73610J/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: microfocuses * multilayer mirror * free electron laser beam
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822498
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180334 - 5.0335976 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Louis, E. - Khorsand, A.R. - Sobierajski, R. - van Hattum, E.D. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Jastrow, U. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Tiedtke, K.I. - Gaudin, J. - Gullikson, E.M. - Bijkerk, F.
Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers.
[Poškození mnohovrstvé optiky indukované XUV laserem s volnými elektrony.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610I /1-73610I /6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: multilayer mirror * radiation damage * soft x-rays * free-electron laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822257
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180314 - 6.0335967 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Vyšín, Luděk - Gautier, J. - Hajdu, J. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - London, R.A. - Papalazarou, E. - Pelka, J. B. - Rey, G. - Sebban, S. - Sobierajski, M. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Valentin, C. - Wabnitz, H. - Zeitoun, P.
Response of molecular solids to ultra-intense femtosecond soft x-ray pulses.
[Odezva molekulárních pevných látek na ultra-intenzivní femtosekundové měkké rentgenové pulzy.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736108/1-736108/9. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701; GA ČR GA203/06/1278
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * high-order harmonics * free-electron laser * desorption * ablation * organic polymer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822297
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180307 - 7.0335956 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Jastrow, U. - Stojanovic, N. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Krzywinski, J. - Hau-Riege, S. - London, R.
Interaction of intense ultrashort XUV pulses with silicon.
[Interakce intenzivních ultra-krátkých XUV pulzů s křemíkem.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736107/1-736107/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: radiation damage * amorphization * ablation * monocrystalline silicon * soft x-ray free-electron laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822152
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180297 - 8.0335795 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vyšín, Luděk - Burian, T. - Chalupský, Jaromír - Grisham, M. - Hájková, Věra - Heinbuch, S. - Jakubczak, Krzysztof - Martz, D. - Mocek, Tomáš - Pira, P. - Polan, Jiří - Rocca, J.J. - Rus, Bedřich - Sobota, Jaroslav - Juha, Libor
Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser.
[Charakterizace fokusovaného 46,9 nm svazku 10 Hz stolního kapilárního laseru.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610O/1-73610O/8. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR GA203/06/1278; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: XUV laser * capillary-discharge laser * annular intensity distribution * beam imprint * photo-induced erosion
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822759
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180164 - 9.0335782 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jakubczak, Krzysztof - Mocek, Tomáš - Polan, Jiří - Homer, Pavel - Rus, Bedřich - Kim, I. J. - Kim, C. M. - Park, S.B. - Kim, T.K. - Lee, G.H. - Nam, C. H. - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Juha, Libor - Sobota, Jaroslav - Fořt, Tomáš
Efficient materials processing by dual action of XUV/Vis-NIR ultrashort laser pulses.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610A/1-73610A/5. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA ČR GC202/07/J008
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: High-order Harmonic Generation (HHG) * materials machining * nanopatterning * femtosecond laser pulses * Laser Induced Periodic Surface Structures (LIPSS)
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822433
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180152 - 10.0335777 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Wabnitz, H. - Feldhaus, J. - Störmer, M. - Hecquet, Ch. - Mocek, Tomáš - Kozlová, Michaela - Polan, Jiří - Homer, Pavel - Rus, Bedřich - Juha, Libor
Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation.
[Prahy poškození různých materiálů ozářených 100-ps pulzy laserového záření o vlnové délce 21,2 nm.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736110/1-736110/6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Grant ostatní: LASERLAB-EUROPE(XE) RII3-CT-2003-506350
Program: FP6
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: soft x-ray laser * damage to x-ray optics * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822950
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180148