Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0568602 - ÚPT 2023 CZ eng A - Abstrakt
    Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
    Cryogenic Sample Holder with Electrical Contacts for UHV SEM/SPM.
    16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 142-143. ISBN 978-80-11-02253-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339871
     
     
  2. 2.
    0568420 - ÚPT 2023 RIV CZ eng A - Abstrakt
    Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Konvalina, Ivo - Fořt, Tomáš - Materna Mikmeková, Eliška
    Energy-based calibration for quantitative STEM measurements and comparison with 2D-PAD.
    16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 450-451. ISBN 978-80-11-02253-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339731
     
     
  3. 3.
    0540306 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
    Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Béché, A. - Verbeeck, J. - Müllerová, Ilona
    Electron vortex beams in the scanning electron microscope.
    Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 42.
    [Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron vortex beams * SEM
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317957
     
     
  4. 4.
    0483076 - ÚPT 2018 CZ eng A - Abstrakt
    Daniel, Josef - Grossman, Jan - Fořt, Tomáš - Souček, P. - Bernátová, K. - Zábranský, L. - Buršíková, V. - Vašina, P. - Sobota, Jaroslav
    Dynamic impact resistance of nc-TiC/a-C:H coatings prepared by DCMS and HiPIMS.
    RSD 2017. 16th International Conference on Reactive Sputter Deposition. Program. Abstract. Plzeň: University of West Bohemia, 2017. s. 124. ISBN 978-80-261-0754-5.
    [RSD 2017. International Conference on Reactive Sputter Deposition /16./. 04.12.2017-06.12.2017, Plzeň]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: dynamic impact resistance * nc-TiC/a-C:H
    Obor OECD: Audio engineering, reliability analysis
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278487
     
     
  5. 5.
    0386542 - ÚFP 2013 US eng A - Abstrakt
    Koláček, Karel - Štraus, Jaroslav - Schmidt, Jiří - Frolov, Oleksandr - Prukner, Václav - Melich, Radek - Choukourov, A. - Sobota, Jaroslav - Fořt, Tomáš
    Direct nano-structuring of solid surface by extreme ultraviolet Ar8+ laser (poster P06.6).
    The 56th International Conference on Electron, Ion and Photon Beam Technology & Nanofabrication, Program Guide. Waikoloa, Hawaii: IEEE, 2012. s. 24-24. ISBN N.
    [International Conference on Electron, Ion and Photon Beam Technology & Nanofabrication/56./. 29.05.2012-01.06.2012, Waikoloa, Hawaii]
    Grant CEP: GA MŠMT LA08024
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20430508
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: nano-patterning by Ar8+ laser * ablation * desorption * direct engraving of 2D diffraction pattern
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (UPT-D)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0220188
     
     
  6. 6.
    0353051 - ÚPT 2011 CN eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Fořt, Tomáš - Müllerová, Ilona
    Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils.
    Focus on Microscopy - FOM 2010. Shanghai: Shanghai Jiao Tong University, 2010. s. 224.
    [Focus on Microscopy - FOM 2010. 28.03.2010-31.03.2010, Shanghai]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: very low energy electrons * laser confocal microscope * free-standing ultra thin films * very low energy transmission mode
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192399
     
     
  7. 7.
    0352952 - ÚPT 2011 CN eng A - Abstrakt
    Grossman, Jan - Fořt, Tomáš - Sobota, Jaroslav - Bursíková, V. - Vašina, P. - Souček, P. - Eliáš, M. - Klapetek, P. - Buršík, Jiří
    Dynamic wear study of DLC coatings deposited on steel substrates with TiC/a-C:H interlayer.
    4th International Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2010). Suzhou: NDNC, 2010. s. 262.
    [International Conference on New Diamond and Nano Carbons /4./. 16.05.2010-20.05.2010, Suzhou]
    Grant CEP: GA ČR GA202/07/1669
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: DLC deposition * mechanical properties * coating stack design * protective coatings * tribology
    Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192324
     
     
  8. 8.
    0352951 - ÚPT 2011 CN eng A - Abstrakt
    Bursíková, V. - Sťahel, P. - Franta, D. - Gardelka, T. - Fořt, Tomáš - Sobota, Jaroslav - Klapetek, P. - Peřina, Vratislav - Buršík, Jiří
    Thermal Desorption Spectroscopy Study on Diamond-like Carbon Films Modified by Silicon, Oxygen or Nitrogen.
    4th International Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2010). Suzhou: NDNC, 2010. s. 263.
    [International Conference on New Diamond and Nano Carbons /4./. 16.05.2010-20.05.2010, Suzhou]
    Grant CEP: GA ČR GA202/07/1669
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z10480505; CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: DLC deposition * mechanical and optical properties * thermal resistance * protective coatings
    Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192323
     
     
  9. 9.
    0352950 - ÚPT 2011 CN eng A - Abstrakt
    Sobota, Jaroslav - Grossman, Jan - Bursíková, V. - Fořt, Tomáš - Vyskočil, J.
    Evaluation of hardness, tribological behaviour and impact load of carbon-based hard composite coatings exposed to the influence of humidity.
    4th International Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2010). Suzhou: NDNC, 2010. s. 167.
    [International Conference on New Diamond and Nano Carbons /4./. 16.05.2010-20.05.2010, Suzhou]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: DLC deposition * mechanical properties * tribology
    Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192322
     
     
  10. 10.
    0352946 - ÚPT 2011 BE eng A - Abstrakt
    Mikmeková, Eliška - Sobota, Jaroslav - Fořt, Tomáš - Caha, O.
    The Effect of Process Conditions and Post-deposition Annealing on the Residual Stress in Carbon Nitride Films Prepared by Magnetron Sputtering.
    Ninth International Symposium on Reactive Sputter Deposition. Ghent: Ghent University, 2010. P-16.
    [International Symposium on Reactive Sputter Deposition /9./. 09.12.2010-10.12.2010, Ghent]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: residual stress * carbon nitride films * magnetron sputtering
    Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192320
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.