Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0546228 - FZÚ 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Roudnická, Michaela - Kubásek, J. - Pantělejev, L. - Molnárová, Orsolya - Bigas, J. - Drahokoupil, Jan - Paloušek, D. - Vojtěch, D.
    Heat treatment of laser powder-bed-fused Co-28Cr-6Mo alloy to remove its microstructural instability by massive FCC→HCP transformation.
    Additive Manufacturing. Roč. 47, Nov. (2021), č. článku 102265. ISSN 2214-8604. E-ISSN 2214-7810
    Grant CEP: GA MŠMT LM2018110; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760
    Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: Co–28Cr–6Mo * additive manufacturing * laser powder bed fusion * elevated temperatures operation * heat treatment
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 11.632, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1016/j.addma.2021.102265
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0322803
     
     
  2. 2.
    0368128 - ÚFM 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Kunz, Ludvík - Lukáš, Petr - Pantělejev, L. - Man, O.
    Stability of Microstructure of Ultrafine-Grained Copper Under Fatigue and Thermal Exposition.
    Strain. Roč. 2011, č. 47 (2011), 476–482. ISSN 0039-2103. E-ISSN 1475-1305
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: equal channel angular pressing * stability of ultrafine-grained microstructure * fatigue
    Kód oboru RIV: JG - Hutnictví, kovové materiály
    Impakt faktor: 1.103, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006707
     
     
  3. 3.
    0366907 - ÚFM 2012 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
    Pantělejev, L. - Man, O. - Kunz, Ludvík
    Microstructural stability of ultrafine grained copper at elevated temperature.
    Acta Metallurgica Slovaca. - (Longauerová, M.). Roč. 17, č. 3 (2011), s. 158-162. ISSN 1338-1156
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: ultrafine grained microstructure * copper * microstructurral stability * EBSD
    Kód oboru RIV: JG - Hutnictví, kovové materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201736
     
     
  4. 4.
    0361143 - ÚFM 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Kunz, Ludvík - Lukáš, Petr - Pantělejev, L. - Man, O.
    Stability of ultrafine-grained structure of copper under fatigue loading.
    Procedia Engineering. Roč. 10, - (2011), s. 201-206. E-ISSN 1877-7058
    Grant CEP: GA ČR GAP108/10/2001
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: fatigue of ultrafine-grained Cu * stability of ultrafine-grained structure * cyclic slip bands * shear bands
    Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0198537
     
     
  5. 5.
    0353414 - ÚFM 2011 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Man, O. - Pantělejev, L. - Kunz, Ludvík
    Study of thermal stability of ultrafine-grained copper by means of electron back scattering diffraction.
    Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 209-213. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
    Grant CEP: GA AV ČR 1QS200410502
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: ultra-fine grained copper * thermal stability of microstructure * electron back scattering diffraction * grain size * texture
    Kód oboru RIV: JG - Hutnictví, kovové materiály
    Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192669
     
     
  6. 6.
    0340746 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Man, O. - Pantělejev, L. - Frank, Luděk
    Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM.
    Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
    Grant CEP: GA MŠMT OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * electron backscatter diffraction (EBSD) * grain contrast * ultra-fine grained materials
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
    http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/292.html
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183927
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.