Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0580588 - ÚPT 2024 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Šabacká, P. - Maxa, Jiří - Bayer, R. - Binar, T. - Bača, P. - Dostalová, P. - Mačák, M. - Čudek, P.
    Comparative Analysis of Supersonic Flow in Atmospheric and Low Pressure in the Region of Shock Waves Creation for Electron Microscopy.
    Sensors. Roč. 23, č. 24 (2023), č. článku 9765. E-ISSN 1424-8220
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-25799S
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Ansys Fluent * critical flow * ESEM * nozzle * one-dimensional flow theory * pressure sensors * sensing techniques for low pressures * temperature sensors
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 3.9, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/1424-8220/23/24/9765
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349352
     
     
  2. 2.
    0549311 - ÚPT 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Šimonová, L. - Matějka, Milan - Knápek, Alexandr - Králík, Tomáš - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Fořt, Tomáš - Man, O. - Škarvada, P. - Otáhal, A. - Čudek, P.
    Nanostructures for achieving selective properties of a thermophotovoltaic emitter.
    Nanomaterials. Roč. 11, č. 9 (2021), č. článku 2443. E-ISSN 2079-4991
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: thermophotovoltaics * selective emitters * nanostructures * reactive ion etching * emissivity * electron beam lithography
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 5.719, rok: 2021
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2079-4991/11/9/2443
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325334
     
     
  3. 3.
    0434469 - ÚPT 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Čudek, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
    Optimization of Signal Detection in Scintillation Secondary Electron Detector for ESEM and SEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 19, S2 (2014), s. 40-41. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103; GA ČR(CZ) GA14-22777S
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: signal detection * scintillation secondary electron detector * ESEM * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.872, rok: 2014
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238537
     
     
  4. 4.
    0383890 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Jirák, Josef - Čudek, P. - Neděla, Vilém
    Scintillation secondary electron detector for ESEM and SEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 18, Suppl. 2 (2012), s. 1266-1267. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: environmental scanning electron microscopes * scintillation detector * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.495, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213687
     
     
  5. 5.
    0368932 - ÚPT 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Jirák, J. - Čudek, P. - Neděla, Vilém
    Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * scintillation detector * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 3.007, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203133
     
     
  6. 6.
    0350812 - ÚPT 2011 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Jirák, J. - Neděla, Vilém - Černoch, P. - Čudek, P. - Runštuk, Jiří
    Scintillation SE detector for variable pressure scanning electron microscopes.
    Journal of Microscopy. Roč. 239, č. 3 (2010), s. 233-238. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scintillation detector * secondary electrons detection * variable pressure scanning electron
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.872, rok: 2010
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190715
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.