Výsledky vyhledávání
- 1.0578230 - FZÚ 2024 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krása, Josef - Nassisi, V. - Burian, Tomáš - Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Jelínek, Šimon - Frantálová, Kateřina - Krupka, Michal - Kuglerová, Zuzana - Singh, Sushil K. - Vozda, Vojtěch - Vyšín, Luděk - Wild, J. - Šmíd, M. - Toleikis, I. - Falk, Kateřina - Juha, Libor … celkem 38 autorů
Ion emission from plasmas produced by femtosecond pulses of short-wavelength free-electron laser radiation focused on massive targets: an overview and comparison with long-wavelength laser ablation.
Proceedings of SPIE. Bellingham: SPIE, 2023 - (Juha, L.; Bajt, S.; Guizard, S.), č. článku 125780J. 12578. ISBN 9781510662766. ISSN 0277-786X.
[Conference on Optics Damage and Materials Processing by EUV/X-ray Radiation VIII (XDam8). Prague (CZ), 24.04.2023-26.04.2023]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2023068; GA ČR(CZ) GA20-08452S
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ablation * nanosecond pulses * femtosecond pulses * UV excimer laser * soft-x-ray laser * free-electron laser * ion diagnostics * ion detector function
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12578/125780J/Ion-emission-from-plasmas-produced-by-femtosecond-pulses-of-short/10.1117/12.2670113.short
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0347258 - 2.0424964 - FZÚ 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Nevrlý, V. - Janků, J. - Dlabka, J. - Vašinek, M. - Juha, Libor - Vyšín, Luděk - Burian, Tomáš - Lančok, Ján - Skříňský, J. - Zelinger, Zdeněk - Pira, P. - Wild, J.
Global sensitivity analysis of the XUV-ABLATOR code.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics IV; and EUV and X-ray Optics: Synergy between Laboratory and Space III. Bellingham: SPIE, 2013 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.; Hudec, R.; Pína, L.). Proceedings of SPIE, 8777. ISBN 9780819495792.
[Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics IV; and EUV and X-ray Optics: Synergy between Laboratory and Space III. Praha (CZ), 15.04.2013-18.04.2013]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/11/1312
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388955
Klíčová slova: extreme ultraviolet laser * ablation * model * sensitivity analysis * high dimensional model representation
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230940 - 3.0372531 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hájková, Věra - Juha, Libor - Boháček, Pavel - Burian, Tomáš - Chalupský, Jaromír - Vyšín, Luděk - Gaudin, J. - Heimann, P.A. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. - Sobierajski, R. - Krzywinski, J. - Messerschmidt, M. - Moeller, S.P. - Nagler, B. - Rowen, M. - Schlotter, W.F. - Swiggers, M.L. - Turner, J.J. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Wark, J. - Matuchová, M. - Bajt, S. - Chapman, H. - Fäustlin, R. - Singer, A. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vartaniants, I. - Wabnitz, H. - Dzelzainis, T. - Riley, D. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Iwan, B. - Timneanu, N. - Saksl, K.
X-ray laser-induced ablation of lead compounds.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 807718/1-807718/7. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
[Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10046; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR GAP205/11/0571; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR(CZ) GAP108/11/1312
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: extreme ultraviolet laser * x-ray laser * free electron laser * radiation damage * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.890134
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205829 - 4.0372446 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Giglia, A. - Mahne, N. - Bianco, A. - Svetina, C. - Cucini, R. - Vyšín, Luděk - Burian, Tomáš - Juha, Libor - Nannarone, S.
FEL multilayer optics damaged by multiple laser shots: experimental results and discussion.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 807711/1-807711/12. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
[Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10046
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: damage threshold * multilayer * free electron lasers
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.886845
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205761 - 5.0372421 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Nováková, Eva - Davídková, M. - Vyšín, Luděk - Burian, Tomáš - Juha, Libor - Grisham, M. E. - Heinbuch, S. - Rocca, J.J.
Damage to dry plasmid DNA induced by nanosecond XUV-laser pulses.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 80770W/1-80770W/8. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
[Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10046
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: extreme ultraviolet laser * radiation damage to DNA * single-strand breaks * double-strand breaks * pulsed laser deposition
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.887735
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205741 - 6.0372407 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pira, P. - Burian, Tomáš - Vyšín, Luděk - Chalupský, Jaromír - Lančok, Ján - Wild, J. - Střižík, M. - Zelinger, Zdeněk - Rocca, J.J. - Juha, Libor
Ablation of ionic crystals induced by capillary-discharge XUV laser.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 807719/1-807719/7. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
[Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR GAP208/10/2302; GA MŠMT(CZ) ME10046
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
Klíčová slova: extreme ultraviolet laser, * XUV laser * capillary-discharge laser * ionic crystals * XUV ablation * XUV desorption * pulsed laser deposition * PLD
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/ 10.1117/12.890406
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205734 - 7.0336007 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Cihelka, Jaroslav - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Rosmej, F.B. - Renner, Oldřich - Saksl, K. - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Galtier, E. - Schott, R. - Khorsand, A.R. - Riley, D. - Dzelzainis, T. - Nelson, A. - Lee, R. W. - Heimann, P. - Nagler, B. - Vinko, S. - Wark, J. - Whitcher, T. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Fäustlin, R. - Wabnitz, H. - Bajt, S. - Chapman, H. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. - Hau-Riege, S. - London, R.A. - Kuba, J. - Stojanovic, N. - Sokolowski-Tinten, K. - Gleeson, A.J. - Störmer, M. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Timneanu, N.
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser.
[Optická emisní spektroskopie různých materiálů ozářených rentgenovým laserem s volnými elektrony.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: optical emission spectroscopy * free-electron laser * atomic lines * plasma plume * warm dense matter
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180339 - 8.0335967 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Vyšín, Luděk - Gautier, J. - Hajdu, J. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - London, R.A. - Papalazarou, E. - Pelka, J. B. - Rey, G. - Sebban, S. - Sobierajski, M. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Valentin, C. - Wabnitz, H. - Zeitoun, P.
Response of molecular solids to ultra-intense femtosecond soft x-ray pulses.
[Odezva molekulárních pevných látek na ultra-intenzivní femtosekundové měkké rentgenové pulzy.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736108/1-736108/9. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701; GA ČR GA203/06/1278
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * high-order harmonics * free-electron laser * desorption * ablation * organic polymer
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822297
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180307 - 9.0335956 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Jastrow, U. - Stojanovic, N. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Krzywinski, J. - Hau-Riege, S. - London, R.
Interaction of intense ultrashort XUV pulses with silicon.
[Interakce intenzivních ultra-krátkých XUV pulzů s křemíkem.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736107/1-736107/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: radiation damage * amorphization * ablation * monocrystalline silicon * soft x-ray free-electron laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822152
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180297 - 10.0335795 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vyšín, Luděk - Burian, T. - Chalupský, Jaromír - Grisham, M. - Hájková, Věra - Heinbuch, S. - Jakubczak, Krzysztof - Martz, D. - Mocek, Tomáš - Pira, P. - Polan, Jiří - Rocca, J.J. - Rus, Bedřich - Sobota, Jaroslav - Juha, Libor
Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser.
[Charakterizace fokusovaného 46,9 nm svazku 10 Hz stolního kapilárního laseru.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610O/1-73610O/8. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR GA203/06/1278; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: XUV laser * capillary-discharge laser * annular intensity distribution * beam imprint * photo-induced erosion
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822759
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180164