Výsledky vyhledávání
- 1.0487218 - FZÚ 2018 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Wierzchowski, W. - Wieteska, K. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Pelka, J. - Zymierska, D. - Paulmann, C. - Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Graf, A. - Burian, Tomáš - Chalupský, Jaromír - Gaudin, J. - Krzywinski, J. - Moeller, S. - Messerschmidt, M. - Bozek, J. - Bostedt, C.
Synchrotron topographic evaluation of strain around craters generated by irradiation with X-ray pulses from free electron laser with different intensities.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 364, Dec (2015), s. 20-26. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: x-ray free electron laser * soft x-ray lasers * irradiation with femtosecond pulses * silicon
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 1.389, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0281894 - 2.0422836 - FZÚ 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wierzchowski, W. - Wieteska, K. - Klinger, D. - Sobierajski, R. - Pelka, J. B. - Zymierska, D. - Balcer, T. - Chalupský, Jaromír - Gaudin, J. - Hájková, Věra - Burian, Tomáš - Gleeson, A.J. - Juha, Libor - Sinn, H. - Sobota, D. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Vyšín, Luděk - Wabnitz, H. - Paulmann, C.
Investigation of damage induced by intense femtosecond XUV pulses in silicon crystals by means of white beam synchrotron section topography.
Radiation Physics and Chemistry. Roč. 93, Dec (2013), s. 99-103. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
Grant CEP: GA MŠMT ED1.1.00/02.0061; GA MŠMT EE.2.3.20.0087; GA ČR(CZ) GAP108/11/1312; GA ČR GAP208/10/2302; GA ČR GAP205/11/0571; GA MŠMT EE2.3.30.0057
Grant ostatní: ELI Beamlines(XE) CZ.1.05/1.1.00/02.0061; OP VK 2 LaserGen(XE) CZ.1.07/2.3.00/20.0087; AVCR(CZ) M100101221; OP VK 4 POSTDOK(XE) CZ.1.07/2.3.00/30.0057
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon * XUV * FEL * ablation * X-ray topography * deformation fields
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.189, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228967 - 3.0372183 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wierzchowski, W. - Wieteska, K. - Balcer, T. - Klinger, D. - Sobierajski, R. - Zymierska, D. - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Burian, Tomáš - Gleeson, A.J. - Juha, Libor - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vyšín, Luděk - Wabnitz, H. - Gaudin, J.
X-ray topographic investigation of the deformation field around spots irradiated by FLASH single pulses.
Radiation Physics and Chemistry. Roč. 80, č. 10 (2011), s. 1036-1040. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA ČR(CZ) GAP108/11/1312; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA MŠMT(CZ) ME10046
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: silicon * FLASH irradiation * x-ray topography * deformation fields
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.227, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205557 - 4.0334118 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Paszkowicz, W. - Krzywinski, J. - Jurek, M. - Zymierska, D. - Wawro, A. - Petroutchik, A. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Chalupský, Jaromír - Burian, T. - Vyšín, Luděk - Toleikis, S. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U. - London, R. - Hau-Riege, S. - Riekel, C. - Davies, R. - Burghammer, M. - Dynowska, E. - Szuszkiewicz, W. - Caliebe, W. - Nietubyc, R.
Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy.
[Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie.]
Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: XUV FEL * radiation damage * ablation * structure modifications * x-ray diffraction
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.149, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178937 - 5.0333898 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Klinger, D. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Krzywinski, J. - Pelka, J. - Juha, Libor - Jurek, M. - Zymierska, D. - Guizard, S. - Merdji, H.
Surface modification of polymethylmethacrylate irradiated with 60 fs single laser pulses.
[Modifikace povrchů poly(methylmetakrylát)u ozářeného 60-fs laserovými impulzy.]
Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S71-S74. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: polymethylmethacrylate (PMMA) * IR laser ablation * femtosecond laser pulse
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.149, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178773