Výsledky vyhledávání
- 1.0421395 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Meduňa, M. - Caha, O. - Kuběna, J. - Kuběna, A. - Svoboda, Milan - Buršík, Jiří
Oxygen Precipitation in CZ Si Wafers after High Temperature.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: oxygen precipitation * Si wafers
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228230 - 2.0421391 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Caha, O. - Meduňa, M. - Bernatová, S. - Růžička, J. - Mikulík, P. - Buršík, Jiří - Svoboda, Milan - Bernstorff, S.
X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si.
SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
[Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: x-ray * silicon * defects
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228231 - 3.0329389 - ÚFM 2010 AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Buršík, Jiří - Kuběna, J. - Meduňa, M. - Caha, O.
TEM study of oxygen precipitates and other defects in Czochralski-grown silicon.
Microscopy Conference 2009. Graz: Verlag der Technisen Universität Graz, 2009, s. 511-512. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: Czochralski-grown silicon * oxygen * nucleation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0175441