Výsledky vyhledávání
- 1.0370027 - ÚFM 2012 RIV IT eng O - Ostatní výsledky
Buršík, Jiří - Svoboda, Milan - Meduňa, M. - Růžička, J. - Caha, O.
TEM study of oxide precipitates and other microstructural defects in Czochralski-grown silicon after various heat treatments.
10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: Urbino University "Carlo Bo", 2011. s. 539-540
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: Czochralski silicon * oxide * precipitate
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203945