Výsledky vyhledávání
- 1.0456404 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yamazaki, S. - Maeda, K. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Zobač, Vladimír - Pou, P. - Rodrigo, L. - Mutombo, Pingo - Perez, R. - Jelínek, Pavel - Morita, S.
Interplay between switching driven by the tunneling current andatomic force of a bistable four-atom Si quantum dot.
Nano Letters. Roč. 15, č. 7 (2015), 4356-4363. ISSN 1530-6984. E-ISSN 1530-6992
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic manipulation * atomic switch * Si quantum dot * scanning tunneling microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 13.779, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0256930 - 2.0399906 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Yurtsever, A. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Jelínek, Pavel
Role of tip chemical reactivity on atom manipulation process in dynamic force microscopy.
ACS Nano. Roč. 7, č. 8 (2013), s. 7370-7376. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy * atomic manipulation * force spectroscopy * chemical interaction force * DFT simulations * nudged elastic band
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.033, rok: 2013
http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/nn403097p
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227065 - 3.0399566 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Ondráček, Martin - Abe, M. - Pou, P. - Morita, S. - Perez, R. - Flores, F. - Jelínek, Pavel
Quantum degeneracy in atomic point contacts revealed by chemical force and conductance.
Physical Review Letters. Roč. 111, č. 10 (2013), "106803-1"-"106803-5". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scanning tunneling microscopy * atomic force microscopy * degenerate states * silicon surface * dangling bonds
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.728, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226828 - 4.0328715 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
[Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil.]
Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA100100905
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.137, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174960 - 5.0316218 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Perez, R. - Morita, S.
Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy.
[Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil.]
Science. Roč. 322, č. 5900 (2008), 413-417. ISSN 0036-8075. E-ISSN 1095-9203
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010413
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * atomic manipulation * DFT simulation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 28.103, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166209 - 6.0315275 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jelínek, Pavel - Švec, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Cháb, Vladimír
Tip-induced reduction of the resonant tunneling current on semiconductor surfaces.
[Hrotem vyvolaný pokles rezonančního tunelovacího proudu na površích polovodičů.]
Physical Review Letters. Roč. 101, č. 17 (2008), 176101/1-176101/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA1010413; GA AV ČR IAA100100616
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: scaning tunneling microscopy * electron states at surfaces and interfaces * nanoscale contacts
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.180, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165525