Výsledky vyhledávání
- 1.0385323 - ÚPT 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin - Radlička, Tomáš - Lencová, B.
Effect of sample tilt on PEEM resolution.
Ultramicroscopy. Roč. 119, S1 (2012), s. 45-50. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: PEEM * LEEM * Aberrations * Misalignment * Sample tilt * Point spread function * Resolution
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.470, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214610 - 2.0358590 - ÚPT 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin - Lencová, Bohumila
Correction of sample tilt in FIB instruments.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 645, č. 1 (2011), s. 130-135. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: sample tilt * extraction field * correction of elliptical beam shape * calculation of intensity distribution * focused ion beams
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0196576 - 3.0358560 - ÚPT 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
Development of EOD for the design in electron and ion microscopy.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 654, č. 1 (2011), s. 278-282. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: finite element method * tolerancing * user interface
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0196559 - 4.0350850 - ÚPT 2011 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Radlička, Tomáš - Lencová, Bohumila
Determination of analytical expansion from numerical field data.
Ultramicroscopy. Roč. 110, č. 9 (2010), s. 1198-1204. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron optics * aberrations * differential algebra method * axial field derivatives
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.061, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190740 - 5.0333616 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Jánský, Pavel - Zlámal, J. - Lencová, Bohumila - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Radlička, Tomáš
Numerical simulations of the thermionic electron gun for electron-beam welding and micromachining.
Vacuum. Roč. 84, č. 2 (2009), s. 357-362. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Numerical simulation * Thermionic emission * Electron gun
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.975, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178558 - 6.0333615 - ÚPT 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Oral, Martin - Lencová, Bohumila
Calculation of aberration coefficients by ray tracing.
Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 11 (2009), s. 1365-1373. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Aberrations * Aberration coefficients * Ray tracing * Regression * Fitting
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.067, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178557