Výsledky vyhledávání
- 1.0353047 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.6:1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: EOD * FEM * Windows
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192397 - 2.0350668 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin
Ray tracing, aberration coefficients and intensity distribution.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 49-52. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ray tracing * aberration coefficients * intensity distribution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350668_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190608 - 3.0350661 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lencová, Bohumila
Recent developments and improvements of EOD program.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 25-28. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: EOD * particle optics
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350661_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190601 - 4.0315453 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
Numerical Simulations of Thermionic Electron Guns.
[Numerické výpočty termoemisních elektronových trysek.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 51-52. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge * numerical simulations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165652 - 5.0315085 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
Accurate calculations of thermionic electron gun properties.
[Přesné výpočty vlastností termoemisní elektronové trysky.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 557-558. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004856 - 6.0315084 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Lencová, Bohumila
Influence of tilt of sample on axial beam properties.
[Vliv náklonění vzorku na vlastnosti osového svazku.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 599-600. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: parasitic aberration * misalignment aberrations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004855