Výsledky vyhledávání
- 1.0335882 - ÚPT 2011 IT eng A - Abstrakt
Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV.
6th International Workshop on LEEM/PEEM. Trieste: ELETTRA, 2008. s. 110. ISBN N.
[International Workshop on LEEM/PEEM /6./. 07.09.2008-11.09.2008, Trieste]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: very low energy electron microscopy * scanning low energy electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180232 - 2.0335497 - ÚPT 2010 CZ eng A - Abstrakt
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
Profiling N-Type Dopants in Silicon Structures.
Mikroskopia 2009. Brno: Tribun EU, 2009. s. 25. ISBN 978-80-7399-739-7.
[Mikroskopia 2009. 25.03.2009-26.03.2009, Stará Lesná]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179946 - 3.0325106 - ÚPT 2009 CZ eng A - Abstrakt
Horáček, Miroslav - Zobač, Martin - Vlček, Ivan
Floating Power Supply for Specimen Bias in Scanning Electron Microscope.
[Plovoucí zdroj pro předpětí vzorku v REM.]
Mikroskopia 2009. Brno: Tribun EU, 2009. s. 24. ISBN 978-80-7399-739-7.
[Mikroskopia 2009. 25.03.2009-26.03.2009, Stará Lesná]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: floating power supply * scanning electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172632