Výsledky vyhledávání
- 1.0308441 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 37. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160925 - 2.0308439 - ÚPT 2008 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Neděla, Vilém - Weyda, František
Advantages of Study of Amber Fossils with Ionization Detector in Variable Pressure SEM.
[Výhody studia fosílií v jantaru pomocí ionizačního detektoru v EREM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 36. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z50070508
Klíčová slova: amber * VP SEM * ionisation detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160923 - 3.0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection systems * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160920 - 4.0308434 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hanzlíková, Renáta - Mika, Filip - Matějková, Jiřina
Prezentace činnosti Laboratoří elektronové mikroskopie.
[The Laboratories for Electron Microscopy and Image Analysis presentation.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 29. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: microscopy * SEM * EDX
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160918 - 5.0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
[Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopants * PEEM * SEM * silicon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160916