Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0584210 - ÚFP 2024 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Krása, J. - Nassisi, V. - Burian, Tomáš - Hájková, V. - Chalupský, J. - Jelínek, Šimon - Frantálová, K. - Krupka, Michal - Kuglerová, Z. - Singh, Sushil Kumar - Vozda, V. - Vyšín, L. - Wild, J. - Šmíd, M. - Perez-Martin, P. - Pan, X. - Kühlman, M. - Pintor, J. - Cikhardt, J. - Dreimann, M. - Eckermann, D. - Rosenthal, F. - Vinko, S. M. - Forte, A. - Gawne, T. - Campbell, T. - Ren, S. - Shi, Y. F. - Hutchinson, T. - Humphries, O. - Preston, T. - Makita, M. - Nakatsutsumi, M. - Köhler, A. - Harmand, M. - Toleikis, S. - Falk, K. - Juha, L.
    Ion emission from plasmas produced by femtosecond pulses of short-wavelength free-electron laser radiation focused on massive targets: an overview and comparison with long-wavelength laser ablation.
    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. Vol. 12578. Bellingham: SPIE, 2023, Roč. 12578 (2023), č. článku 125780J. ISBN 9781510662766. ISSN 0277-786X.
    [Conference on Optics Damage and Materials Processing by EUV/X-ray Radiation VIII (XDam8). Prague (CZ), 24.04.2023-26.04.2023]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2023068; GA ČR(CZ) GA20-08452S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Ablation * femtosecond pulses * free-electron laser * ion acoustic velocity * ion detector function * ion diagnostics * ion rarefaction * ion scaling * nanosecond pulses * soft-x-ray laser * UV excimer laser
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12578/2670113/Ion-emission-from-plasmas-produced-by-femtosecond-pulses-of-short/10.1117/12.2670113.short
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352179
     
     
  2. 2.
    0372531 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hájková, Věra - Juha, Libor - Boháček, Pavel - Burian, Tomáš - Chalupský, Jaromír - Vyšín, Luděk - Gaudin, J. - Heimann, P.A. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. - Sobierajski, R. - Krzywinski, J. - Messerschmidt, M. - Moeller, S.P. - Nagler, B. - Rowen, M. - Schlotter, W.F. - Swiggers, M.L. - Turner, J.J. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Wark, J. - Matuchová, M. - Bajt, S. - Chapman, H. - Fäustlin, R. - Singer, A. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vartaniants, I. - Wabnitz, H. - Dzelzainis, T. - Riley, D. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Iwan, B. - Timneanu, N. - Saksl, K.
    X-ray laser-induced ablation of lead compounds.
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 807718/1-807718/7. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
    [Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10046; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR GAP205/11/0571; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR(CZ) GAP108/11/1312
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: extreme ultraviolet laser * x-ray laser * free electron laser * radiation damage * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.890134
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205829
     
     
  3. 3.
    0336007 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Cihelka, Jaroslav - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Rosmej, F.B. - Renner, Oldřich - Saksl, K. - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Galtier, E. - Schott, R. - Khorsand, A.R. - Riley, D. - Dzelzainis, T. - Nelson, A. - Lee, R. W. - Heimann, P. - Nagler, B. - Vinko, S. - Wark, J. - Whitcher, T. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Fäustlin, R. - Wabnitz, H. - Bajt, S. - Chapman, H. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. - Hau-Riege, S. - London, R.A. - Kuba, J. - Stojanovic, N. - Sokolowski-Tinten, K. - Gleeson, A.J. - Störmer, M. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Timneanu, N.
    Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser.
    [Optická emisní spektroskopie různých materiálů ozářených rentgenovým laserem s volnými elektrony.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: optical emission spectroscopy * free-electron laser * atomic lines * plasma plume * warm dense matter
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180339
     
     
  4. 4.
    0336002 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Bajt, S. - Chapman, H.N. - Nelson, A.J. - Lee, R. W. - Toleikis, S. - Mirkarimi, P. - Alameda, J.B. - Baker, S. L. - Vollmer, H. - Graff, R.T. - Aquila, A. - Gullikson, E.M. - Meyer Ilse, J. - Spiller, E.A. - Krzywinski, J. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Hajdu, J. - Tschentscher, T.
    Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam.
    [Mikrofokusace svazku měkkého rentgenového laseru s volnými elektrony.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610J/1-73610J/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: microfocuses * multilayer mirror * free electron laser beam
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822498
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180334
     
     
  5. 5.
    0335976 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Louis, E. - Khorsand, A.R. - Sobierajski, R. - van Hattum, E.D. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Jastrow, U. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Tiedtke, K.I. - Gaudin, J. - Gullikson, E.M. - Bijkerk, F.
    Damage studies of multilayer optics for XUV free electron lasers.
    [Poškození mnohovrstvé optiky indukované XUV laserem s volnými elektrony.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610I /1-73610I /6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: multilayer mirror * radiation damage * soft x-rays * free-electron laser
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822257
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180314
     
     
  6. 6.
    0335967 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Vyšín, Luděk - Gautier, J. - Hajdu, J. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - London, R.A. - Papalazarou, E. - Pelka, J. B. - Rey, G. - Sebban, S. - Sobierajski, M. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Valentin, C. - Wabnitz, H. - Zeitoun, P.
    Response of molecular solids to ultra-intense femtosecond soft x-ray pulses.
    [Odezva molekulárních pevných látek na ultra-intenzivní femtosekundové měkké rentgenové pulzy.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736108/1-736108/9. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701; GA ČR GA203/06/1278
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: x-ray laser * high-order harmonics * free-electron laser * desorption * ablation * organic polymer
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822297
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180307
     
     
  7. 7.
    0335956 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Sobierajski, R. - Klinger, D. - Jurek, M. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Vyšín, Luděk - Jastrow, U. - Stojanovic, N. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Krzywinski, J. - Hau-Riege, S. - London, R.
    Interaction of intense ultrashort XUV pulses with silicon.
    [Interakce intenzivních ultra-krátkých XUV pulzů s křemíkem.]
    Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736107/1-736107/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: radiation damage * amorphization * ablation * monocrystalline silicon * soft x-ray free-electron laser
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1117/12.822152
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180297
     
     
  8. 8.
    0335046 - FZÚ 2010 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Galtier, E. - Rosmej, F.B. - Riley, D. - Dzelzainis, T. - Heinmann, P. - Khattak, F.Y. - Lee, R. W. - Nagler, B. - Nelson, A. - Tschentscher, T. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Toleikis, S. - Fäustlin, R. - Juha, Libor - Fajardo, M. - Wark, J. S. - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Krzywinski, J. - Soberierski, R. - Jurek, M. - Kozlová, Michaela
    Radiation emission of autoionising hole states of Al induced by XUV free electron laser radiation with FLASH at DESY.
    [Emise záření autoionizujích děr v elektronovém obalu hliníku vytvořených XUV laserem s volnými elektrony FLASH.]
    36th EPS Conference on Plasma Physics – Contributed papers. Paris: European Physical Society, 2009 - (Mateev, M.; Benova, E.), P2.034/1-P2.034/4. ECA, 33E. ISBN 2-914771-61-4.
    [EPS Plasma Physics Conference /36./. Sofia (BG), 29.06.2009-03.07.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: aluminium plasma * XUV emission spectra * warm dense matter (WDM) * soft x-rays * free-electron laser * high-energy-density physics * microfocusing
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    http://epsppd.epfl.ch/Sofia/pdf/P2_034.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179627
     
     
  9. 9.
    0334254 - FZÚ 2010 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Dzelzainis, T.W.J. - Khattak, F.Y. - Nagler, B. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Nelson, A.J. - Lee, R. W. - Bajt, S. - Toleikis, S. - Fäustlin, R. - Tschentscher, T. - Juha, Libor - Kozlová, Michaela - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Krzywinski, J. - Soberierski, R. - Jurek, M. - Fajardo, M. - Rosmej, F.B. - Heinmann, P. - Wark, J. S. - Riley, D.
    Emission spectroscopy from an XUV laser irradiated solid target.
    [Emisní spektroskopie na pevném terči ozářeném XUV laserem.]
    X-Ray Lasers 2008. Dordrecht: Springer, 2009 - (Ciaran, L.; Riley, D.), s. 549-555. ISBN 978-1-4020-9923-6.
    [International Conference on X-Ray Lasers /11th./. Belfast (GB), 17.08.2008-22.08.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: free-electron laser * XUV emission spectra * XUV laser * high-energy density
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://www.springer.com/physics/optics/book/978-1-4020-9923-6
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179038
     
     
  10. 10.
    0333987 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lee, R. W. - Nagler, B. - Zastrau, U. - Fäustlin, R. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Sobierajski, R. - Krzywinski, J. - Juha, Libor - Nelson, A.J. - Bajt, S. - Budil, K. - Cauble, R.C. - Bornath, T. - Burian, T. - Chalupský, Jaromír - Chapman, H. - Cihelka, Jaroslav - Döppner, T. - Dzelzainis, T. - Hájková, Věra - Kozlová, Michaela - Laarmann, T. - Lee, H.-J. - Meiwes-Broer, K.-H. - Mercere, P. - Murphy, W.J. - Przystawik, A. - Riley, D. - Röpke, G. - Saksl, K. - Thiele, R. - Toleikis, S. - Uschmann, I. - Falcone, R.W. - Shepherd, R. - Hastings, J.B. - Wark, J. S. … celkem 55 autorů
    Perspective for high energy density studies on x-ray FELs.
    [Perspektivy fyziky vysokých hustot energie na X-ray FEL.]
    Soft X-Ray Lasers and Applications VIII. Bellingham: SPIE, 2009 - (Dunn, J.; Tallents, G.), 74510E /1-74510E /7. Proceedings of SPIE, 7451. ISBN 9780819477415. ISSN 0277-786X.
    [Soft X-Ray Lasers and Applications /8./. San Diego (US), 04.08.2009-06.08.2009]
    Grant CEP: GA ČR GA202/08/1734
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: FLASH * x-ray FEL * high energy density
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178836
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.