Výsledky vyhledávání
- 1.0566529 - ÚPT 2023 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Knápek, Alexandr - Dupák, Libor - Matějka, Milan
Autoemisní mikroskop pro analýzu hrotu sondy.
[Field emission microscope for probe tip analysis.]
2022. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 26.05.2022. Číslo vzoru: 36068
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010504
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field emission microscope * SPM probe analysis
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0036/uv036068.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337859 - 2.0533649 - ÚPT 2021 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Manipulátor držáku vzorku spektrometru s mikrometrickým posuvem a spektrometr s uvedeným manipulátorem.
[Manipulator with micrometric sample positioning and spectrometer with this manipulator.]
2020. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 08.09.2020. Číslo vzoru: 34364
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: manipulator * micrometric sample position * spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0034/uv034364.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0311976 - 3.0518094 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
Držák vzorků s elektrickým kontaktováním.
[Sample holder with electrical contact.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 03.12.2019. Číslo vzoru: 33444
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryogenic sample holder * UHV SEM/SPM microscope * electrical contacts
Obor OECD: Mechanical engineering
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303278 - 4.0517631 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Spektrometr pozorovací komory rastrovacího elektronového mikroskopu a rastrovací elektronový mikroskop s pozorovací komorou tento spektrometr obsahující.
[Scanning electron microscope observation spectrometer and scanning electron microscope with the observation chamber.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 26.11.2019. Číslo vzoru: 33419
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302936