Výsledky vyhledávání

0509126 - ÚPT 2020 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
Design of Cryogenic Sample Holder with Electrical Contacts for UHV SEM/SPM.
15th Cryogenics 2019 IIR International Conference. Proceedings. Paris: IIR, 2019, s. 369-377. Refrigeration Science and Technology. ISBN 978-2-36215-025-8. ISSN 0151-1637.
[IIR International Conference on Cryogenics /15./. Prague (CZ), 08.04.2019-11.04.2019]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryogenic sample holder * UHV SEM/SPM microscope * spring-loaded electrical contacts * transport pallet
Obor OECD: Mechanical engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299911

0481348 - ÚPT 2018 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Fořt, Tomáš - Grossman, Jan - Daniel, Josef - Sobota, Jaroslav - Dupák, Libor - Buršíková, V. - Zábranský, L. - Souček, L. - Mirzaei, S. - Alishahi, M. - Vašina, P. - Buršík, Jiří
Impaktní odolnost nanokompozitivních Mo-B-C a W-B-C povlaků připravených metodou magnetronového naprašování.
[Impact resistence on nanocomposite Mo-B-C- and W-B-C coatings deposited using magnetron sputtering technique.]
Vrstvy a povlaky 2017. Zborník prednášok. Rožnov pod Radhoštěm: LISS, 2017. ISBN 978-80-972133-2-9.
[Vrstvy a povlaky 2017. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 23.10.2017-24.10.2017]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-17875S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68081723
Klíčová slova: impact test * nanoindentation test * magnetron sputtering * Mo-B-C * W-B-C
Obor OECD: Audio engineering, reliability analysis; Audio engineering, reliability analysis (UFM-A)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276928

0464489 - ÚPT 2017 RIV SK cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Buršíková, V. - Grossman, Jan - Fořt, Tomáš - Dupák, Libor - Souček, P. - Zábranský, L. - Vašina, P. - Buršík, Jiří - Sobota, Jaroslav
Impaktní odolnost Mo2BC vrstev.
[Impact resistence of Mo2BC Coating.]
Vrstvy a povlaky 2016. Zborník prednášok.. Trenčianská Teplá: M-PRESS, 2016, s. 17-22. ISBN 978-80-972133-1-2.
[Vrstvy a povlaky 2016. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 17.10.2016-18.10.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68081723
Klíčová slova: impact resistance * Mo2BC * coating
Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263367

0435631 - ÚPT 2015 RIV SK cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grossman, Jan - Buršíková, V. - Vašina, P. - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Zábranský, L. - Souček, P. - Buršík, J. - Sobota, Jaroslav
Vliv vlhkosti na opotřebení ncTic/a-C:H povlaku v dynamickém režimu.
[Influence of the humidity on the wear resistacnce of ncTiC/a-C:H coating under dynamic loading conditions.]
Vrstvy a povlaky 2014. Trenčín: Knihviazačstvo, 2014, s. 55-60. ISBN 978-80-970824-3-7.
[Vrstvy a povlaky 2014. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 20.10.2014-21.10.2014]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: impact test * humidity * nanocomposite
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239430

0387379 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Zobač, Martin - Fořt, Tomáš - Vlček, Ivan - Dupák, Libor - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Mrňa, Libor - Horáček, Miroslav - Sobota, Jaroslav
Institute of Scientific Instruments: An Overview Presenatation.
METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 26-31. ISBN 978-80-87294-29-1.
[METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: E-beam microscopy * welding and lithography * laser cutting * impact test * wear resistance * hard coatings
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216566