Výsledky vyhledávání
- 1.0580404 - ÚPT 2024 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2023-58: Design elektronově optických systémů.
[SMV-2023-58: Design of Electron Optical Elements.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno, s.r.o., 2023. 5 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optical design * aberrations * resolution
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349178 - 2.0565923 - ÚPT 2023 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2022-39: Návrh, simulace a verifikace elektronově optických systémů.
[SMV-2022-39: Electron optical systems design, simulations, and verification.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno, s.r.o., 2022. 6 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optical design * aberrations * resolution
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337396 - 3.0549958 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2021-43: Návrh a simulace elektronově optických systémů.
[SMV-2021-43: Electron Optical Systems Design and Simulations.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., 2021. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: Electron optical design * aberrations * resolution
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325850 - 4.0536722 - ÚPT 2021 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2020-31: Návrh a simulace elektronově optických prvků.
[SMV-2020-31: Electron Optical Elements Design and Simulations.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno, s.r.o., 2020. 6 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optical design * aberrations * resolution
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314445 - 5.0519188 - ÚPT 2020 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2019-77: Výpočet vlastností termoemisního zdroje.
[SMV-2019-77: Calculation of electron optical properties of thermionic-emission source.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., 2019. 2 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: thermionic emission electron sources * space-charge limitted emission
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0304224 - 6.0518486 - ÚPT 2020 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2019-64: Cs korektor realizovaný pomocí kombinace anulární a kruhové apertury.
[SMV-2019-64: Circular annular Cs Corrector.]
Brno: Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., 2019. 2 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optics * Cs corrector * resolutions
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303620 - 7.0499163 - ÚPT 2019 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje.
[SMV-2018-21: Calculation of electron optical properties of XPS source.]
Brno: FEI CZECH REPUBLIC, 2018. 5 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: thermoemionic electron gun * space-charge * electron optics
Obor OECD: Communication engineering and systems
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291422 - 8.0499162 - ÚPT 2019 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2018-20: Elektronově optické vlatnosti multi-svazkového zdroje elektronů.
[SMV-2018-20: Electron optical propertis of the multibeam electron source.]
Brno: FEI CZECH REPUBLIC, 2018. 5 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron source * multi-beam SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291421 - 9.0468460 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš
SMV-2016-21: DA modul pro EOD.
[SMV-2016-21: DA modul for EOD.]
Brno: Ing. Jakub Zlámal, Ph.D., 2016. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optics * differential algebraic method
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0266309 - 10.0468459 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Rozbořil, Jakub
SMV-2016-20: Výpočty detekčních systémů rastrovacích elektronových mikroskopů.
[SMV-2016-20: Simulation of detection systems of scanning electron microscopes.]
Brno: FEI Czech Republic, s.r.o., 2016. 10 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optics * electron microscopy * contrast optimization
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0266308