Výsledky vyhledávání
- 1.0308154 - ÚPT 2008 RIV US eng M - Část monografie knihy
Radlička, Tomáš
Lie Algebraic method in Charged Particle Optics.
[Metody Lieových algeber v optice nabitých částic.]
Advances in Imaging and Electron Physics, Vol. 151. San Diego: Academic Press - Elsevier, 2008 - (Hawkes, P.), s. 241-362. ISBN 978-0-12-374218-6
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: aberrations * Lie algebra method
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160719