Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0049023 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Wandrol, Petr - Müllerová, Ilona
    Detection of Signal Electrons in the Low Voltage SEM.
    [Detekce signálních elektronů v nízkonapěťové SEM.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 71-72. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR KJB200650501
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: signal electrons * detection * low voltage SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139520
     
     
  2. 2.
    0049022 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, Petr
    Decay Kinetics of Scintillation Crystals for SEM Electron Detectors.
    [Kinetika doznívání scintilačních krystalů pro detektory elektronů v SEM.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 63-64. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/04/2144
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scintillation detector * electron microscope * cathodoluminescence * YAG:Ce * single crystal scintillator * decay time * afterglow * kinetic model * SEM * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139519
     
     
  3. 3.
    0049021 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Radlička, Tomáš
    Coulomb Interaction in Ion and Electron Beams.
    [Coulombovské interakce v iontových a elektronových svazcích.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 61-62. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2325
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Coulomb interaction * LMIS * lithography
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139518
     
     
  4. 4.
    0049020 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons.
    [Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 59-60. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: local density of states * image contrast * electron reflectivity * very low energy electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139517
     
     
  5. 5.
    0049019 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Novák, Libor - Müllerová, Ilona
    Processing of Signal in the Everhart-Thornley Detector.
    [Zpracování signálu Everhart-Thornleyho detektorem.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 57-58. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/04/2144
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SEM * detection * Everhart-Thornley
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139516
     
     
  6. 6.
    0049018 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Neděla, Vilém - Maxa, J. - Autrata, Rudolf
    Environmental Scanning Electron Microscope AQUASEM II - The Design and Applications.
    [Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II - návrh a aplikace.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 55-56. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: ESEM * AQUASEM-II * design
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139515
     
     
  7. 7.
    0049017 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope.
    [Režim katodové čočky v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 49-52. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens mode * SEM * very slow electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139514
     
     
  8. 8.
    0049016 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Imaging of Dopants in Semiconductors with the Secondary Electrons in a Low Energy SEM.
    [Zobrazení dopantu v polovodiči s pomocí sekundárních elektronů v LESEM.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 47-48. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant distribution profile * low energy scanning electron microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139513
     
     
  9. 9.
    0049015 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Zlámal, Jakub
    EOD (Electron Optical Design) Program Features.
    [Vlastnosti programu EOD (Electron Optical Design).]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 45-46. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: optics of charged particles * design of electron microscopes * user inetrface * numerical methods of ray tracing * the finite element method
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139512
     
     
  10. 10.
    0049014 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Oral, Martin
    Programs for Electron Optical Design.
    [Programy pro elektronově optický návrh.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 41-44. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: optics of charged particles * computation of spot profiles * scanning electron microscope design * Wien filter
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139511
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.