Výsledky vyhledávání

0423743 - FZÚ 2014 RIV GB eng M - Část monografie knihy
Klapetek, P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav
Local current measurements.
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy. Oxford: Elsevier, 2013 - (Klapetek, P.), s. 221-245. Micro and Nano Technologies. ISBN 978-1-4557-3058-2
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: STM * AFM * local electronic properties * nanostructures
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455730582
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229821