Výsledky vyhledávání
- 1.0531672 - ÚPT 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Yacoot, A. - Hortvík, V. - Duchoň, V. - Dongmo, H. - Řeřucha, Šimon - Valtr, M. - Nečas, D.
Multiple-fibre interferometry setup for probe sample interaction measurements in atomic force microscopy.
Measurement Science and Technology. Roč. 31, č. 9 (2020), č. článku 094001. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA MPO(CZ) EG15_019/0004676
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: atomic force microscopy * interferometry * metrology
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.046, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/ab85d8
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310288 - 2.0473812 - FZÚ 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbell, A.C. - Jelínek, Pavel - Klapetek, P.
Study of uncertainties of height measurements of monoatomic steps on Si 5 × 5 using DFT.
Measurement Science and Technology. Roč. 28, č. 3 (2017), 1-6, č. článku 034005. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: DFT * AFM
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 1.685, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270946 - 3.0449151 - FZÚ 2016 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Fejfar, Antonín - Hývl, Matěj - Vetushka, Aliaksi - Pikna, Peter - Hájková, Zdeňka - Ledinský, Martin - Kočka, Jan - Klapetek, P. - Marek, A. - Mašková, A. - Vyskočil, J. - Merkel, J. - Becker, Ch. - Itoh, T. - Misra, S. - Foldyna, M. - Yu, L. - Roca i Cabarrocas, P.
Correlative microscopy of radial junction nanowire solar cells using nanoindent position markers.
Solar Energy Materials and Solar Cells. Roč. 135, SI (2015), s. 106-112. ISSN 0927-0248. E-ISSN 1879-3398
Grant CEP: GA MŠMT 7E10061; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GA13-12386S
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101216; AVČR(CZ) M100101217
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: radial junction solar cells * silicon nanowires * thin films * structural disorder * conductive AFM * nanoindentation * correlative microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 4.732, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250730 - 4.0444439 - ÚPT 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich - Šerý, Mojmír
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy.
Sensors. Roč. 14, č. 1 (2014), s. 877-886. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.245, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246959 - 5.0385209 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Valtr, M. - Duchoň, V. - Sobota, Jaroslav
Voice coil based scanning probe microscopy.
Nanoscale Research Letters. Roč. 7, č. 6 (2012), 332:1-7. ISSN 1931-7573. E-ISSN 1556-276X
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/241; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SPM * Voice coil * Interferometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.524, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214542 - 6.0372559 - ÚPT 2012 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
Multiaxis interferometric displacement measurement for local probe microscopy.
Central European Journal of Physics. Roč. 10, č. 1 (2012), s. 225-231. ISSN 1895-1082
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: interferometry * nanometrology * microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.905, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205851 - 7.0372290 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbellová, A. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Klapetek, P. - Jelínek, Pavel
´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study.
Nanotechnology. Roč. 22, č. 29 (2011), 295710/1-295710/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: density functional theory * atomic force microscope * semiconductor surface * sub-atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.979, rok: 2011
http://iopscience.iop.org/0957-4484/22/29/295710
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205643 - 8.0366031 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology.
Measurement Science and Technology. Roč. 22, č. 9 (2011), 094030:1-8. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.494, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201133 - 9.0359836 - ÚFM 2012 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Buršíková, V. - Bláhová, O. - Karásková, M. - Zajíčková, L. - Jašek, O. - Franta, D. - Klapetek, P. - Buršík, Jiří
Mechanical properties of ultrananocryslalline thin films deposited using dual frequency discharges.
Chemické listy. Roč. 105, - (2011), s. 98-101. ISSN 0009-2770. E-ISSN 1213-7103.
[Lokální mechanické vlastnosti ´07. Brno, 07.11.2007-09.11.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: ultrananocryslalline diamond * plasma enhanced chemical vapor deposition * dual frequency discharge
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 0.529, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0197542 - 10.0352400 - ÚFM 2011 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbellova, A. - Klapetek, P. - Buršíková, V. - Valtr, M. - Buršík, Jiří
Small-load nanoindentation experiments on metals.
Surface and Interface Analysis. Roč. 42, č. 6-7 (2010), s. 766-769. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918.
[European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis /13./. Antalya, 18.10.2010-23.10.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: nanoindentation * FCC metals * pop-in
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.247, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191911