Výsledky vyhledávání
- 1.0492864 - FZÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk - Poruba, Aleš - Franta, D. - Conrad, B. - Abelová, L. - Bušek, D.
Measurement of doping profiles by a contactless method of IR reflectance under grazing incidence.
Review of Scientific Instruments. Roč. 89, č. 6 (2018), s. 1-6, č. článku 063114. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant CEP: GA ČR GA18-24268S; GA MŠMT(CZ) LTC17029
Grant ostatní: AV ČR(CZ) KONNECT-007
Program: Bilaterální spolupráce
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: infrared reflectivity * silicon * layers * Si
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.587, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286339 - 2.0424989 - FZÚ 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Nečas, D. - Zajíčková, L. - Ohlídal, I. - Stuchlík, Jiří
Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films.
Thin Solid Films. Roč. 541, AUG (2013), s. 12-16. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ellipsometry * spectrophotometry * a-Si:H * Urbach tail * localized states * sum rule
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.867, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230959 - 3.0424878 - FZÚ 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Nečas, D. - Zajíčková, L. - Ohlídal, I. - Stuchlík, Jiří - Chvostová, Dagmar
Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon.
Thin Solid Films. Roč. 539, JUL (2013), s. 233-244. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: optical constants * ellipsometry * spectrophotometry * a-Si:H * Urbach tail * localized states * sum rule
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.867, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230860 - 4.0421819 - ÚJF 2014 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Mocanu, V. - Stoica, A. - Kelar, L. - Franta, D. - Bursíková, V. - Mikšová, Romana - Peřina, Vratislav
Multifunctional transparent protective coatings on polycarbonates prepared using PECVD.
Chemické listy. Roč. 106, SI5 (2012), s. 1460-1464. ISSN 0009-2770. E-ISSN 1213-7103
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: multilayered coatings * protective * transparent * polycarbonate
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 0.453, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228123 - 5.0365941 - ÚPT 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Ohlídal, I. - Nečas, D. - Vižďa, F. - Caha, O. - Hasoň, M. - Pokorný, Pavel
Optical characterization of HfO(2) thin films.
Thin Solid Films. Roč. 519, č. 18 (2011), s. 6085-6091. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: optical properties * ellipsometry * spectrophotometry * hafnium oxide * transition-metal oxide * Urbach tail
Kód oboru RIV: JK - Koroze a povrchové úpravy materiálů
Impakt faktor: 1.890, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201067 - 6.0365579 - ÚJF 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Zajíčková, L. - Franta, D. - Nečas, D. - Bursíková, V. - Muresan, M. - Peřina, Vratislav
Dielectric response and structure of amorphous hydrogenated carbon films with nitrogen admixture.
Thin Solid Films. Roč. 519, č. 13 (2011), s. 4299-4308. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Grant CEP: GA ČR GA202/07/1669
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: DENSITY-OF-STATES * DIAMOND-LIKE CARBON * INFRARED-SPECTRA
Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
Impakt faktor: 1.890, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0200787 - 7.0359836 - ÚFM 2012 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Buršíková, V. - Bláhová, O. - Karásková, M. - Zajíčková, L. - Jašek, O. - Franta, D. - Klapetek, P. - Buršík, Jiří
Mechanical properties of ultrananocryslalline thin films deposited using dual frequency discharges.
Chemické listy. Roč. 105, - (2011), s. 98-101. ISSN 0009-2770. E-ISSN 1213-7103.
[Lokální mechanické vlastnosti ´07. Brno, 07.11.2007-09.11.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: ultrananocryslalline diamond * plasma enhanced chemical vapor deposition * dual frequency discharge
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 0.529, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0197542 - 8.0319767 - FZÚ 2009 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Nečas, D. - Peřina, Vratislav - Franta, D. - Ohlídal, I. - Zemek, Josef
Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films.
[Optická charakterizace vrstev nestechiometrického nitridu křemíku.]
Physica Status Solidi C. Roč. 5, č. 5 (2008), s. 1320-1323. ISSN 1862-6351
Grant ostatní: GA MPO(CZ) FT-TA3/142
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: silicon nitride * spectroscopic ellipsometry * RBS
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0168835 - 9.0308492 - ÚPT 2008 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Karásková, M. - Zajíčková, L. - Jašek, O. - Buršíková, V. - Franta, D. - Matějková, Jiřina - Klapetek, P.
Studying an influence of a nucleation phase on nanocrystalline diamond film properties.
[Studium vlivu nukleační fáze na vlastnosti nanokrystalických diamantových vrstev.]
Acta Metallurgica Slovaca. Roč. 13, č. 6 (2008), s. 204-208. ISSN 1335-1532.
[NANO '07. Brno, 08.10.2007-10.10.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607; GA AV ČR KAN311610701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: nanokrystalline diamond * plasma enhanced CVD * bias enhanced nucleation * hardness
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160963 - 10.0092619 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ohlídal, I. - Franta, D. - Šiler, Martin - Vižďa, F. - Frumar, M. - Jedelský, J. - Omasta, J.
Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films.
[Srovnání disperzních modelů při optické charakterizaci As-S chalkogenidových tenkých vrstev.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 352, 52-54 (2006), s. 5633-5641. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Ellipsometry * Chalcogenides
Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
Impakt faktor: 1.362, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152890