Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0395940 - FZÚ 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Oulehla, Jindřich - Pokorný, Pavel - Fejfar, Antonín - Stuchlík, Jiří
    Position measurement in standing wave interferometer for metrology of length.
    Photonics, Devices, and Systems V. Bellingham: SPIE, 2011 - (Tománek, P.; Senderáková, D.; Páta, P.), "830607-1"-"830607-7". Proceedings of SPIE, 8306. ISBN 9780819489531. ISSN 0277-786X.
    [Photonics, Devices, and Systems V. Praha (CZ), 24.08.2011-26.08.2011]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: metrology * standing wave * interferometer * amorphous silicon
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0223837
     
     
  2. 2.
    0391796 - FZÚ 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
    Role of microscopic morphology in electrostatic charging of nanocrystalline diamond.
    Proceedings of the International Workshop on Diamond Nanotechnology and Science Progress - DINAS 2011. Prague: Institute of Physics ASCR, 2012 - (Rezek, B.; Kromka, A.), s. 14-15. ISBN 978-80-260-1593-2.
    [International Workshop on Diamond Nanotechnology and Science Progress. Prague (CZ), 15.06.2011-17.06.2011]
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR GAP204/10/0212
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: nanocrystalline diamond * surface oxidation * grain boundaries * defects * polarization * SEM * AFM/KFM
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0220783
     
     
  3. 3.
    0375317 - FZÚ 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
    Microscopic measurements of polycrystalline silicon thin films on glass.
    Proceedings of the 26th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. München: WIP München, 2011, s. 2788-2790. ISBN 3-936338-27-2.
    [European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition /26./. Hamburg (DE), 05.09.2011-09.09.2011]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: Si-films * polycrystalline Si * microcrystalline Si
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208002
     
     
  4. 4.
    0375054 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Fejfar, Antonín - Klapetek, P. - Zlámal, J. - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
    Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells.
    Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology. Warrendale: MRS, 2011 - (Yan, B.; Higashi, S.; Tsai, C.; Wang, Q.; Gleskova, H.), s. 313-321. MRS Symposium Proceeding, 1321. ISBN 9781605112985.
    [Materials Research Society Spring Meeting. San Francisko (US), 25.04.2011-29.04.2011]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    Grant ostatní: 7. Framework programme EU(XE) no. 240826
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: silicon * scanning probe methods * solar cells
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207821
     
     
  5. 5.
    0375024 - FZÚ 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
    Electrostatic assembly of alumina nanoparticles on nanocrystalline diamond films.
    WDS'11 Proceedings of Contributed Papers: Part III: Physics. Praha: MATFYZPRESS, 2011 - (Šafránková, J.; Pavlů, J.), s. 93-98. ISBN 978-80-7378-186-6.
    [WDS 2011 - Annual Conference of Doctoral Students /20./. Prague (CZ), 31.05.2011-03.06.2011]
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR GAP204/10/0212
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * Kelvin force microscopy (KFM) * electrostatic charging * self-assembly * nanocrystalline diamond
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207800
     
     
  6. 6.
    0375023 - FZÚ 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Krátká, Marie - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav - Brož, A. - Kalbáčová, M.
    Characteristics of nanocrystalline diamond SGFETs under cell culture conditions.
    WDS'11 Proceedings of Contributed Papers: Part III: Physics. Praha: MATFYZPRESS, 2011 - (Šafránková, J.; Pavlů, J.), s. 160-165. ISBN 978-80-7378-186-6.
    [WDS 2011 - Annual Conference of Doctoral Students /20./. Prague (CZ), 31.05.2011-03.06.2011]
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAAX00100902; GA ČR GAP204/10/0212
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: SGFET * proteins * cells * nanocrystalline diamond
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207799
     
     
  7. 7.
    0373735 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy.
    XXII International Conference on Raman Spectroscopy. Melville: AIP, 2010 - (Champion, P.; Ziegler, L.), s. 1109-1110. AIP Conference Proceedings, 1267. ISBN 978-0-7354-0818-0.
    [International Conference on Raman Spectroscopy /22./. Boston (US), 08.08.2010-13.08.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: Raman * microcrystalline silicon * atomic force microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0206807
     
     
  8. 8.
    0356890 - FZÚ 2011 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Červenka, Jiří - Stuchlík, Jiří - Kalusová, V. - Lukšík, M. - Kočka, Jan
    Internal fields in nanostructured silicon thin films for photovoltaics.
    Proceedings of the 3rd International Symposium on Innovative Solar Cells. Tokyo: Tokyo Institute of Technology, 2010, s. 63-70. ISBN N.
    [International Symposium on Innovative Solar Cells /3./. Tokyo (JP), 07.10.2010-08.10.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: nanocrystalline * silicon * thin films * photovoltaics
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0195295
     
     
  9. 9.
    0356023 - FZÚ 2011 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
    Conductive atomic force microscopy on hydrogenated microcrystalline silicon and polycrystalline silicon thin films for solar cells.
    Proceedings of The Third International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science. Tokyo: Tokyo Institute of Technology Global COE Program, 2010 - (Hirai, S.; Maruyama, T.), s. 23-24. ISBN N.
    [International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science /3./. Ishigaki, Okinawa (JP), 09.12.2010-14.12.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
    GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: thin films of polycrystalline silicon * microcrystalline silicon
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194653
     
     
  10. 10.
    0356009 - FZÚ 2011 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Microcrystalline silicon preferential crystallographic orientation by polarized Raman micro-spectroscopy.
    Proceedings of The Third International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science. Tokyo: Tokyo Institute of Technology Global COE Program, 2010 - (Hirai, S.; Maruyama, T.), s. 21-22. ISBN N.
    [International Forum on Multidisciplinary Education and Research for Energy Science /3./. Ishigaki, Okinawa (JP), 09.12.2010-14.12.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: thin films of amorpous silicon * microcrystalline silicon
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194642
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.