Výsledky vyhledávání
- 1.0088293 - ÚFE 2008 DE eng A - Abstrakt
Žďánský, Karel - Kozak, Halina - Sopko, B. - Pekárek, Ladislav
Study of Schottky diodes made on Mn doped p-type InP.
[Výzkum Schottkyho diod připravených na Mn dopovaném InP typu p.]
DRIP-XII 2007:12th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. Programme & Abstracts. Berlin: [Forschungsverbund Berlin], 2007. s. 133--.
[DRIP /12./. 09.09.2007-13.09.2007, Berlin]
Grant CEP: GA AV ČR KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: Schottky effect * semiconductors * deep levels
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0149870 - 2.0088292 - ÚFE 2008 DE eng A - Abstrakt
Pekárek, Ladislav - Žďánský, Karel
Characterization of indium phosphide single crystals for X-ray detection.
[Charakterizace monokrystalů fosfidu india pro detekci rtg záření.]
DRIP-XII 2007:12th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. Programme & Abstracts. Berlin: [Forschungsverbund Berlin], 2007. s. 132--.
[DRIP /12./. 09.09.2007-13.09.2007, Berlin]
Grant CEP: GA ČR GA102/06/0153; GA AV ČR KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: crystal growth * radiation detection * semiconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0149869 - 3.0083002 - ÚFE 2007 US eng A - Abstrakt
Žďánský, Karel - Kacerovský, Pavel - Zavadil, Jiří - Lorinčík, Jan - Fojtík, A.
Layers of metal nanoparticles on semiconductors deposited by electrophoresis from solutions with reverse micelles.
[Vrstvy kovových nanočástic na polovodičích deponované elektroforézou z roztoku s reversními mecellemi.]
Abstracts of the Semiconducting & Insulating Materials Conference - SIMC XIV. Fayetteville: University of Arkansas, 2007. s. t0110063--.
[Semiconducting & Insulating Materials Conference - SIMC /14./. 15.05.2007-20.05.2007, Fayetteville]
Grant CEP: GA AV ČR KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: semiconductor junctions * nanostructured materials * semicpnductor devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0146394 - 4.0042687 - ÚFE 2007 CZ eng A - Abstrakt
Vacková, S. - Žďánský, Karel - Gorodynskyy, Vladyslav - Majlingová, O. - Oswald, Jiří - Gorley, P. N. - Vacek, R.
Testing of semiconductor materials suitable for radiation detectors by non-traditional methods.
[Testování polovodičových materiálů vhodných pro radiační detektory netradičními metodami.]
CHISA 2006. Summaries 5: Systems and Technology. Praha: Process Engineering Publisher, 2006. s. 1852--. ISBN 80-86059-45-6.
[International Congress of Chemical and Process Engineering CHISA 2006/17th./. 27.08.2006-31.08.2006, Praha]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: materials testing * deep levels * electron-hole recombination
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0135861