Výsledky vyhledávání
- 1.0322013 - FZÚ 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Jablonski, A. - Zemek, Josef
Overlayer thickness determination by XPS using the multiline approach.
[Určování tlouštěk tenkých vrstev z fotoemisních linií.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 41, č. 3 (2008), s. 193-204. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: computer simulations * electron-solid interactions * Monte Carlo simulations * x-ray photoelectron spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.272, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170390 - 2.0319879 - FZÚ 2009 NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef
Comment on "Resolving the depth coordinate in photoelectron spectroscopy - Comparison of excitation energy variation vs. angular-resolved XPS for the analysis of a self-assembled monolazer model system" by V.S. Merzlikin et al.
[Komentář k práci "Resolving the depth coordinate in photoelectron spectroscopy - Comparison of excitation energy variation vs. angular-resolved XPS for the analysis of a self-assembled monolazer model system" V.S. Merzlikina a dalších.]
Surface Science. Roč. 602, č. 23 (2008), s. 3632-3633. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: ARXPS * ERXPS * surface roughness
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.731, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0168921 - 3.0319859 - FZÚ 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Starý, V. - Zemek, Josef - Pavluch, J.
Angular and energy distribution of backscattered electrons simulated by Monte Carlo - assessment by experiment.
[Rozdělení zpětně odražených elektronů podle energie úhlu vypočtené metodou Monte Carlo - srovnání s experimentem.]
Vacuum. Roč. 82, č. 2 (2008), 121-124. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622; GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Monte-Carlo simulation * elastic electron reflection * elektron spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.114, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0168903 - 4.0319399 - FZÚ 2009 RIV RO eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Houdková, Jana - Lesiak, B. - Jablonski, A. - Potměšil, Jiří - Vaněček, Milan
Electron spectroscopy of nanocrystalline diamond surfaces.
[Elektronová spektroskopie povrchů nanokrystalického diamantu.]
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. Roč. 8, č. 6 (2006), 2133-2138. ISSN 1454-4164. E-ISSN 1841-7132
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/2233; GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * x-ray photoelectron spectroscopy * surface properties
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.106, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005009 - 5.0314931 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Olejník, Kamil - Zemek, Josef
Applicability of magic angle for angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy of corrugated SiO2/Si surfaces: Monte Carlo calculations.
[Použitelnost magického úhlu ve fotoelektronové spektroskopii drsných povrchů SiO2/Si : Výpočty Monte Carlo].]
Surface Science. Roč. 602, - (2008), s. 2581-2586. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: photoelectron spectroscopy * surface roughness * Monte Carlo calculations * magic angle * overlayer thickness
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.731, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165293 - 6.0312426 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hajati, S. - Romanyuk, Olexandr - Zemek, Josef - Tougaard, S.
Validity of Yubero-Tougaard theory to quantitatively determine the dielectric properties of surface nanofilms.
[Platnost teorie Yubera a Tougaarda pro kvantitativní stanovení dielektrických vlastností povrchových vrstev nanometrických rozměrů.]
Physical Review. B. Roč. 77, č. 15 (2008), 155403/1-155403/11. ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: REELS * Yubero-Tougaard theory * dielectric function * nanofilms
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.322, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163495 - 7.0312418 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Olejník, Kamil - Klapetek, P.
Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces.
[Fotoelektronová spektroskopie náhodně drsných povrchů.]
Surface Science. Roč. 602, č. 7 (2008), s. 1440-1446. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: x-ray photoelectron spectroscopy * surface roughness * random surface roughness * AFM * Monte-Carlo calculation * overlayer thickness estimation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.731, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163489 - 8.0097675 - FZÚ 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
Investigation of CoPd alloys by XPS and EPES using the pattern recognition method.
[Studium slitin CoPd pomocí XPS, EPES a metod rozpoznávání obrazů.]
Journal of Alloys and Compounds. Roč. 428, - (2007), s. 190-196. ISSN 0925-8388. E-ISSN 1873-4669
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: CoPd alloys * x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) * elastic peak electron spectroscopy (EPES) * pattern recognition method * fuzzy k-nearest neighbour rule (fkNN) * quantitative analysis * surface segregation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.455, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0156767 - 9.0090870 - FZÚ 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Jablonski, A. - Zemek, Josef
Angle-resolved elastic peak electron spectroscopy: Role of surface excitations.
[Úhlově rozlišená spektroskopie elastického píku: Vliv povrchových oxidací.]
Surface Science. Roč. 601, č. 16 (2007), s. 3409-3420. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: computer simulations * electron–solid interactions * electron–solid scattering and transmission – elastic * Monte Carlo simulations * electron spectroscopy * amorphous surfaces
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0151617 - 10.0047694 - FZÚ 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Jablonski, A. - Zemek, Josef
Angle-resolved elastic-peak electron spectroscopy: Solid-state effects.
[Úhlově rozlišená spektroskopie elektrického píku: Efekty pevné látky.]
Surface Science. Roč. 600, - (2006), s. 4464-4474. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: computer simulations * electron-solid interactions * electron-solid scattering and transmission-elastic * Monte-Carlo simulations * electron spectroscopy * amorphous surfaces
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.880, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138529