Výsledky vyhledávání
- 1.0500993 - FZÚ 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Marion, I.D. - Čapeta, D. - Pielić, B. - Faraguna, F. - Gallardo Caparrós, Aurelio Jesús - Pou, P. - Biel, B. - Vujicic, N. - Kralj, M.
Atomic-scale defects and electronic properties of a transferred synthesized MoS2 monolayer.
Nanotechnology. Roč. 29, č. 30 (2018), s. 1-12, č. článku 305703. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: MoS2 * DFT * 2D materials
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.399, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293020 - 2.0456404 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yamazaki, S. - Maeda, K. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Zobač, Vladimír - Pou, P. - Rodrigo, L. - Mutombo, Pingo - Perez, R. - Jelínek, Pavel - Morita, S.
Interplay between switching driven by the tunneling current andatomic force of a bistable four-atom Si quantum dot.
Nano Letters. Roč. 15, č. 7 (2015), 4356-4363. ISSN 1530-6984. E-ISSN 1530-6992
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic manipulation * atomic switch * Si quantum dot * scanning tunneling microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 13.779, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0256930 - 3.0399920 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yurtsever, A. - Sugimoto, Y. - Tanaka, H. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Jelínek, Pavel
Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity.
Physical Review. B. Roč. 87, č. 15 (2013), "155403-1"-"155403-10". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic force microscopy * DFT simulations * silicon surface * surface passivation * electrostatic interaction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.664, rok: 2013
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.87.155403
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227067 - 4.0399906 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Yurtsever, A. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Jelínek, Pavel
Role of tip chemical reactivity on atom manipulation process in dynamic force microscopy.
ACS Nano. Roč. 7, č. 8 (2013), s. 7370-7376. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy * atomic manipulation * force spectroscopy * chemical interaction force * DFT simulations * nudged elastic band
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.033, rok: 2013
http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/nn403097p
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227065 - 5.0399566 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Ondráček, Martin - Abe, M. - Pou, P. - Morita, S. - Perez, R. - Flores, F. - Jelínek, Pavel
Quantum degeneracy in atomic point contacts revealed by chemical force and conductance.
Physical Review Letters. Roč. 111, č. 10 (2013), "106803-1"-"106803-5". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scanning tunneling microscopy * atomic force microscopy * degenerate states * silicon surface * dangling bonds
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.728, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226828 - 6.0386566 - FZÚ 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yurtsever, A. - Fernandez-Torre, D. - González, C. - Jelínek, Pavel - Pou, P. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Pérez, R. - Morita, S.
Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy.
Physical Review. B. Roč. 85, č. 12 (2012), "125416-1"-"125416-9". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10076
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: DFT * AFM * force spectroscopy * atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.767, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215860 - 7.0372290 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbellová, A. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Klapetek, P. - Jelínek, Pavel
´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study.
Nanotechnology. Roč. 22, č. 29 (2011), 295710/1-295710/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: density functional theory * atomic force microscope * semiconductor surface * sub-atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.979, rok: 2011
http://iopscience.iop.org/0957-4484/22/29/295710
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205643 - 8.0361470 - FZÚ 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ondráček, Martin - Pou, P. - Rozsíval, V. - González, C. - Jelínek, Pavel - Pérez, R.
Forces and currents in carbon nanostructures: Are we imaging atoms?
Physical Review Letters. Roč. 106, č. 17 (2011), "176101-1"-"176101-4". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR GA202/09/0545; GA ČR GAP204/10/0952
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: atomic force microscopy * scanning tunneling microscopy * carbon nanotubes * graphite * graphene * first-principles calculations * atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.370, rok: 2011
http://prl.aps.org/abstract/PRL/v106/i17/e176101
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0198777 - 9.0328715 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
[Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil.]
Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA100100905
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.137, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174960 - 10.0316218 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Perez, R. - Morita, S.
Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy.
[Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil.]
Science. Roč. 322, č. 5900 (2008), 413-417. ISSN 0036-8075. E-ISSN 1095-9203
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010413
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * atomic manipulation * DFT simulation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 28.103, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166209