Výsledky vyhledávání
- 1.0501462 - FZÚ 2019 RIV CH eng M - Část monografie knihy
Ondráček, Martin - Hapala, Prokop - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy.
Kelvin probe force microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2018 - (Sadewasser, S.; Glatzel, T.), s. 499-518. Springer Series in Surface Sciences, 65. ISBN 978-3-319-75686-8
Grant CEP: GA ČR GJ17-24210Y
Grant ostatní: AV ČR(CZ) Praemium Academiae
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: charge distribution * surfaces * molecules * Kelvin probe force microscopy * scanning quantum dot microscopy * high resolution atomic force microscopy
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293485 - 2.0456646 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
Hapala, Prokop - Ondráček, Martin - Stetsovych, Oleksandr - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution.
Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Meyer, E.; Wiesendanger, R.), s. 29-49. NanoScience and Technology, 3. ISBN 978-3-319-15587-6
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257148