Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0335270 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, P. - Schauer, Petr - Kuřitka, I. - Nešpůrek, Stanislav
    Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes.
    MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 3: 383-384. ISBN 978-3-85125-062-6.
    [MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z40500505
    Klíčová slova: cathodoluminescence * electron beam degradation * poly[methyl(phenyl)silane] * PMPSi * silicon polymers
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/55161.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179779
     
     
  2. 2.
    0335256 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Bok, J. - Schauer, Petr
    LabVIEW controlled cathodoluminescence equipment.
    MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 55-56. ISBN 978-3-85125-062-6.
    [MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathodoluminescence * scintillator * elektron detektor * LabVIEW * GPIB
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/20795.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179767
     
     
  3. 3.
    0316741 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, Petr - Horák, Petr - Schauer, F. - Kuřitka, I. - Nešpůrek, Stanislav
    Study of degradation and regeneration of silicon polymers using cathodoluminescence.
    [Studium degradace a regenerace křemíkových polymerů s využitím katodoluminiscence.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 2: Materials Science. Berlin: Springer, 2008, s. 789-790. ISBN 978-3-540-85225-4.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z40500505
    Klíčová slova: poly[methyl(phenyl)silylene] * polysilanes * PMPhSi * cathodoluminescence
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166574
     
     
  4. 4.
    0095350 - ÚPT 2008 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Horák, Petr - Kuřitka, I. - Schauer, Petr - Schauer, F. - Saha, P.
    Mechanism of poly[methyl(phenyl)silylene] e-beam degradation.
    [Mechanismus degradace poly[methyl(phenyl)silylene] elektronovým svazkem.]
    3rd European Weathering Symposium (XXVth Colloquium of Danubian Countries on Natural and Artificial Ageing of Polymers). Pfinztal: GUS, 2007 - (Reichert, T.), s. 97-107. ISBN 978-3-9810472-3-3.
    [European Weathering Symposium /3./, Colloquium of Danubian Countries on Natural and Artificial Ageing of Polymers /25./. Krakow (PL), 12.09.2007-14.09.2007]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: poly[methyl(phenyl)silylene] * PMPSi * e-beam degradation * cathodoluminescence * photoluminescence * infrared absorption spectroscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004408
     
     
  5. 5.
    0092592 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Horák, Petr - Schauer, Petr
    Analysis of Electron Beam Degraded poly[methyl(phenyl)silylene].
    [Analýza poly[methyl(phenyl)silylene] degradovaného elektronovým svazkem.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 157-258. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: poly[methyl(phenyl)silylene] * polysilanes * PSi * cathodoluminescence * electron beam degradation
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152870
     
     
  6. 6.
    0054122 - ÚPT 2007 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, F. - Kuřitka, I. - Zemek, Josef - Horák, Petr - Schauer, Petr - Sáha, P.
    Photoelectron spectroscopies and fluorescence studies of polysilanes for nanoresists.
    [Fotoelektronové spektroskopie a fluorescenční studie polysilanů pro nanorezisty.]
    SSSI 2006 - 5th International Conference of the Solid State Surfaces and Interfaces. Bratislava: Institute of Physics SAS, 2006, s. 83.
    [SSSI 2006 - International Conference of the Solid State Surfaces and Interfaces /5./. Smolenice (SK), 19.11.2006-24.11.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: polysilanes * UV radiation * electron beam * degradation * metastability
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0142265
     
     
  7. 7.
    0053513 - ÚPT 2007 RIV IE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Kuřitka, I. - Horák, Petr - Schauer, F.
    Electron Beam and UV Light Induced Phenomena in Polysilanes for Nanostructured Information Storage.
    [Jevy v polysilanech pro nanostrukturovanou archivaci informací vyvolané elektronovým svazkem a UV zářením.]
    ICSM 2006 - International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals. Dublin: Trinity College Dublin, 2006, 72W.
    [ICSM 2006 - International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals. Dublin (IE), 02.07.2006-07.07.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: polysilanes * degradation * weak bonds * metastability
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141767
     
     
  8. 8.
    0053491 - ÚPT 2007 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Schauer, F. - Kuřitka, I. - Horák, Petr - Schauer, Petr
    Polysilanes UV and Electron Beam Degradation for Nanorezists.
    [Degradace polysilanů UV a elektronovým svazkem pro nanorezisty.]
    Proceedings of the 12th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter. Bratislava: Slovak University of Technology in Bratislava, 2006 - (Weis, M.; Vajda, J.), s. 37-40. ISBN 80-227-2424-6.
    [APCOM 2006 - Applied Physics of Condensed Matter /12./. Malá Lučivná (SK), 21.06.2006-23.06.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: polysilanes * degradation * weak bonds * metastability
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141750
     
     
  9. 9.
    0049010 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Horák, Petr - Schauer, Petr
    Poly [Methyl (Phenyl) Silylene] LED Diodes – as Seen by Cathodoluminescence Study.
    [LED diody na bázi poly[fenyl(methyl)silylenu] z hlediska katodoluminiscenčního studia.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 23-24. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Poly[Methyl(Phenyl)Silylene] * cathodoluminescence * LED * degradation
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139507
     
     
  10. 10.
    0041098 - ÚMCH 2007 RIV PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Nešpůrek, Stanislav - Nožár, Juraj - Toman, Petr - Kadashchuk, A. - Fishchuk, I. I.
    Polarons in wide band-gap materials: polysilanes.
    [Polarony v širokopásmových materiálech: polysilany.]
    Zeszyty naukowe Politechniki Lodzkiej. Vol. Nr 982. Lodz: Department of Molecular Physics, Technical University of Lodz, 2006 - (Socha, A.), s. 124-125. ISSN 0458-1555.
    [Conference International Dielectric Society /4./ and International Conference Dielectric and Related Phenomena /9./. Poznan (PL), 03.09.2006-07.09.2006]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622; GA MŠMT OC 138
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40500505
    Klíčová slova: polaron * polysilane * charge transport
    Kód oboru RIV: CD - Makromolekulární chemie
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134677
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.