Výsledky vyhledávání
- 1.0392043 - FZÚ 2014 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Kopeček, Jaromír
Použití difrakce odražených elektronů.
[Applications of Electron back-scattered diffraction.]
Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy. Praha: Vysoká škola chemicko-technologická,, 2012 - (Jurek, K.; Gedeon, O.), s. 204-216. ISBN 978-80-7080-834-4.
[Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy. Žd´ár nad Sázavou (CZ), 22.10.2012-25.10.2012]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: EBSD method * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JG - Hutnictví, kovové materiály
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0221020