Výsledky vyhledávání
- 1.0304127 - URE-Y 20030021 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Závislost transportních vlastností Bi2Te3 na jejich tloušťce.
[Thickness dependence of transport properties of Bi2Te3 layers.]
Ostrava: Repronis, 2002. ISBN 80-7329-027-8. In: Proceedings of the National Conference NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.), s. 214-216
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002 (K)]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114268 - 2.0304126 - URE-Y 20030002 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Thickness dependence of transport properties of Bi2Te3 layers.
Ostrava: Repronis, 2002. ISBN 80-7329-027-8. In: Proceedings of the National Conference NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.), s. 217
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002 (K)]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114267 - 3.0303868 - URE-Y 20010046 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Grym, Jan - Procházková, Olga - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel
Characterisation of InP layers prepared by the LPE method with Pr and Nd addition in the growth melt.
Prague: Czech Technical University, 2001. CTU Reports., Vol. 5, 2001 Sp. Issue. ISBN 80-01-02335-4. In: Proceedings of Workshop 2001., s. 450-451
[Workshop 2001. Prague (CZ), 05.02.2001-07.02.2001 (W)]
Grant CEP: GA ČR GA102/99/0341; GA AV ČR KSK1010601 Projekt 7/96/K:4073
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: liquid phase epitaxial growth * rare earth compounds * III-V semiconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114052 - 4.0105958 - URE-Y 20040113 RIV CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Vacková, S. - Gorodynskyy, Vladyslav - Žďánský, Karel - Vacek, K. - Kozak, Halina
Lifetime on carriers and seebeck coefficient in semiconductors.
[Doba života nosičů náboje a Seebeckův koeficient v polovodičích.]
Proceedings of WORKSHOP 2004. Vol. A. Prague: Czech Technical University, 2004, s. 122-123. CTU Reports, Vol.8, Sp.Issue. ISBN 80-01-02945-X.
[Workshop 2004. Praha (CZ), 22.03.2004-26.03.2004]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IBS2067354; GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Klíčová slova: photoconductivity * carrier lifetime * Seebeck effect
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013144