Výsledky vyhledávání
- 1.0304127 - URE-Y 20030021 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Závislost transportních vlastností Bi2Te3 na jejich tloušťce.
[Thickness dependence of transport properties of Bi2Te3 layers.]
Ostrava: Repronis, 2002. ISBN 80-7329-027-8. In: Proceedings of the National Conference NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.), s. 214-216
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002 (K)]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114268 - 2.0304126 - URE-Y 20030002 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Thickness dependence of transport properties of Bi2Te3 layers.
Ostrava: Repronis, 2002. ISBN 80-7329-027-8. In: Proceedings of the National Conference NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.), s. 217
[NANO'02. Brno (CZ), 19.11.2002-21.11.2002 (K)]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114267 - 3.0105922 - URE-Y 20040076 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Vaniš, Jan - Hulicius, Eduard - Pangrác, Jiří - Melichar, Karel - Walachová, Jarmila
Balistická elektronová emisní mikroskopie kvantových InAs teček v AlGaAs/GaAs heterostruktuře.
[Ballistic electron emission microscopy of InAs quantum dots in AlGaAs/GaAs heterostructure.]
Čtvrtý seminář o metodách blízkého pole. [Praha]: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2004 - (Houdková, J.), s. 12
[Seminář o metodách blízkého pole /4./. Lázně Bohdaneč (CZ), 04.10.2004-06.10.2004]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Klíčová slova: quantum dots * scanning tunneling microscopy * ballistic transport
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013110