Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0356263 - ÚFE 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Šrobár, Fedor - Procházková, Olga
    Constitutive equation of the dipole layer in hydrogen-sensing metal-oxide-semiconductor structures.
    Conference Proceedings ASDAM 2010. Piscataway: IEEE, 2010 - (Breza, J.; Donoval, D.), s. 275-278. ISBN 978-1-4244-8574-1.
    [ASDAM 2010 - The Eighth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Smolenice (SK), 25.10.2010-27.10.2010]
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1037
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: Chemical sensors * Interface phenomena * Semiconductor devices
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194831
     
     
  2. 2.
    0346230 - ÚFE 2011 ES eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grym, Jan - Procházková, Olga - Žďánský, Karel - Yatskiv, Roman - Fojtík, A.
    Electrophoretic deposition of palladium nanoparticles on InP for hydrogen sensors.
    Trends in Nanotechnology (TNT2009). Barcelona: Universidad Autonoma de Barcelona, 2009, s. 12-12.
    [Trends in Nanotechnology 2009 (TNT2009). Barcelona (ES), 07.09.2009-11.09.2009]
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1037; GA AV ČR(CZ) KAN401220801
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * Rare-earth elements * III-V semiconductors
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005966
     
     
  3. 3.
    0346227 - ÚFE 2011 PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grym, Jan - Procházková, Olga - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel
    InGaAsP/InP infrared light emitting diodes prepared by liquid phase epitaxy from rare-earth treated melt.
    XXXVIII International School and Conference on the Physics of Semiconductors, ”Jaszowiec” 2009. Krynica-Zdroj: Polish Academy of Sciences, Institute of Physics, 2009, s. 129-129.
    [XXXVIII International School and Conference on the Physics of Semiconductors, ”Jaszowiec” 2009. Krynica-Zdroj (PL), 19.06.2009-26.06.2009]
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1037; GA ČR(CZ) GP102/08/P617
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * Rare-earth elements * III-V semiconductors
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187303
     
     
  4. 4.
    0346198 - ÚFE 2011 CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Kacerovský, Pavel - Žďánský, Karel - Procházková, Olga - Vaniš, Jan - Grym, Jan - Vasiliev, A. - Pašajev, E. M.
    Microscopy of nanoparticles and films with nanoparticles.
    Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Praha: CSCA, 2009 - (Černý, R.; Fiala, J.; Hašek, J.), s. 38-39. ISSN 1211-5894.
    [Stucture 2009, Colloquium Czech and Slovak Crystallographic Assosiation. Hluboká nad Vltavou (CZ), 22.06.2009-25.06.2009]
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1037; GA AV ČR(CZ) KAN401220801
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor devices * nanostructures
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187284
     
     
  5. 5.
    0346171 - ÚFE 2011 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Procházková, Olga - Grym, Jan - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel - Yatskiv, Roman
    Impact of Pr on the properties of InP based layers for light sources and detectors.
    PHYSICA STATUS SOLIDI. Vol. C. WEINHEIM: WILEY, 2009 - (Correia, A.; Saenz, J.; Ordejon, P.), s. 2801-2803. C-Current Topics in Solid State Physics, 6, 10. ISSN 1610-1634.
    [15th International Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XV). Vilnius (LT), 15.06.2009-19.06.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: detection * radiation
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187265
     
     
  6. 6.
    0346128 - ÚFE 2011 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Šrobár, Fedor - Procházková, Olga
    Purification Action of Rare-Earth Elements in the LPE Growth of III-V Semiconductors: Feedback Phenomena.
    ASDAM 2008, CONFERENCE PROCEEDINGS. NEW YORK: IEEE, 2008 - (Hascik, S.; Osvald, J.), s. 259-262. ISBN 978-1-4244-2325-5.
    [7th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Smolenice (SK), 12.10.2008-16.10.2008]
    Grant CEP: GA ČR GA102/06/0153
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductors * Rare-earth elements * feedback
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187232
     
     
  7. 7.
    0346036 - ÚFE 2011 CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grym, Jan - Procházková, Olga - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel
    LPE Growth of III-V Semiconductors from rare-earth Treated Melts.
    Proceedings of the 18th Joint seminar Development of materials science in research and education. Praha: Czechoslovak association for crystal growth, 2008 - (Nitsch, K.; Rodová, M.), s. 16-17. ISBN 978-80-254-0864-3.
    [18. Development of Materials Science in Research and Education. Hnanice (CZ), 02.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GP102/08/P617; GA ČR GA102/06/0153
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * rare earth elements * III-V semiconductors
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187165
     
     
  8. 8.
    0346035 - ÚFE 2011 PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grym, Jan - Procházková, Olga - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel
    LPE growth of InP layers from rare-earth treated melts for the radiation detection structures.
    EXMATEC 2008. Lodž: IEEE, 2008 - (Ciupa, E.; Sibinski, M.; Podgorski, J.; Bielska, S.), s. 171-172. ISBN 978-83-915220-1-1.
    [9TH International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compound Semiconductor Materials & Technologies. Lodž (PL), 01.06.2008-04.06.2008]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GP102/08/P617; GA ČR GA102/06/0153
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * rare earth elements * III-V semiconductors
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187164
     
     
  9. 9.
    0346031 - ÚFE 2011 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grym, Jan - Procházková, Olga - Zavadil, Jiří - Žďánský, Karel
    Role of rare-earth elements in the design of radiation detectors and electroluminescent sources.
    ASDAM 2008. Piscataway, N.J: IEEE Operation Center, 2008 - (Haščík, Š.; Osvald, J.), s. 107-110. ISBN 978-1-4244-2325-5.
    [The Seventh International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Smolenice (SK), 12.10.2008-16.10.2008]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * rare earth elements * III-V semiconductors
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187162
     
     
  10. 10.
    0308798 - ÚFE 2011 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Procházková, Olga - Grym, Jan - Zavadil, Jiří - Lorinčík, Jan - Žďánský, Karel
    Influence of Yb and Yb2O3 on the properties of InP layers.
    [Vliv Yb a Yb2O3 na vlastnosti InP vrstev.]
    IPRM 2008 - Proceedings of the 20th Indium Phosphide and Related Materials Conference. Piscataway: Institute of Electrical and Electronic Engineers, 2008, ---. ISBN 978-1-4244-2258-6. ISSN 1092-8669.
    [IPRM 2008 - Indium Phosphide and Related Materials Conference /20./. Versailles (FR), 25.05.2008-29.05.2008]
    Grant CEP: GA ČR GA102/06/0153; GA ČR(CZ) GP102/08/P617
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
    Klíčová slova: semiconductor technology * indium compounds * rare earth compounds
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161159
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.