Výsledky vyhledávání
- 1.0387386 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Zobačová, Jitka - Rek, Antonín
Small-Volume Reactive Metal Alloys Prepared by Electron Beam Melting.
METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, -. ISBN 978-80-87294-29-1.
[METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: active solder * tin alloys * titanium alloys * electron beam melting * water cooled crucible
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216610 - 2.0350662 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Rek, Antonín - Mika, Filip - Fořt, Tomáš - Matějková, Jiřina
Comparison of techniques for diffraction grating topography analysis.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 29-32. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Atomic Force Microscopy * AEM * Scanning Electron Microscopy * SEM * topography imaging
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350662_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190602 - 3.0308531 - ÚPT 2008 RIV CA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jašek, O. - Eliáš, M. - Bublan, M. - Kudrle, V. - Zajíčková, L. - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín - Buršík, Jiří - Kadlečíková, M.
Growth of Carbon Nanotubes in Microwave Plasma Torch at Atmospheric Pressure.
[Růst uhlíkových nanotrubek v mikrovlnném výboji za atmosférického tlaku.]
Proceedings of 17th International Symposium on Plasma Chemistry. Toronto: University of Toronto, 2005, s. 287-288. ISBN N.
[International Symposium on Plasma Chemistry/17th./. Toronto (CA), 07.08.2005-12.08.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: carbon nanotrubes * atmospheric pressure * microwave discharge * scanning electron microscopy * substrate * catalyst
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160986 - 4.0308527 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějková, Jiřina - Eliáš, M. - Jašek, O. - Frgala, Z. - Bublan, M. - Zajíčková, L. - Rek, Antonín
High resolution SEM of carbon micro - and nanostructures prepared in microwave discharge.
[Analýza uhlíkových mikro- a nanostruktur připravených v mikrovlnných výbojích metodou SEM s vysokým rozlišením.]
Proceedings of International conference NANO'05. Brno: CSNMT, 2005, s. 107-108. ISBN 80-214-3044-3.
[NANO´05 International Conference. Brno (CZ), 08.11.2005-10.11.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * carbon microstructures * carbon nanostructures * microwave discharge
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160984 - 5.0308518 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kučerová, Z. - Zajíčková, L. - Jašek, O. - Eliáš, M. - Synek, P. - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín - Buršík, Jiří
Carbon nanotubes synthesized by plasma enhanced CVD at atmospheric pressure and their post -deposition treatment.
[Depozice a zpracování uhlíkových nanotrubek připravených metodou PECVD za atmosférického tlaku.]
New Perspectives of Plasma Science and Technology - International Workshop for Students and Young Researchers. Brno: Brno University of Technology, 2007, -. ISBN N.
[New Perspectives of Plasma Science and Technology. Brno (CZ), 23.10.2007-25.10.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: PECVD * carbon nanotubes * oxidation * SEM
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160979 - 6.0308504 - ÚPT 2008 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jašek, O. - Hubálek, J. - Prášek, J. - Dostál, V. - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín - Buršík, Jiří
Carbon nanostructures deposition in microwave plasma torch at atmospheric pressure on sensors for heavy metal detection.
[Depozice uhlíkových nanostruktur v mikrovlnném výboji za atmosférického tlaku na pracovní elektrody senzorů těžkých kovů.]
Book of Contributed Papers of The 3rd Seminar on New Trends on Plasma Physics and Solid State Physics. Bratislava: Library and Publishing Centre, Comenius University, 2007 - (Papp, P.; Országh, J.; Skalný, J.), s. 58. ISBN 978-80-89186-24-2.
[Seminar on New Trends on Plasma Physics and Solid State Physics /3./. Bratislava (SK), 04.10.2008]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: carbon nanotubes * heavy metals * sensor
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160970 - 7.0205610 - UPT-D 20020088 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějková, Jiřina - Rek, Antonín
High resolution field emission scanning electron microscope JSM 6700 in ISI AS CR Brno - first experience and results with the instrument operation.
International summer school: Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně: VUT, 2002, s. -.
[Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně (CZ), 10.06.2002-15.06.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: nano technology * high resolution FE SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101223 - 8.0178057 - UFM-A 20033075 RIV SIGLE GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Man, Jiří - Polák, Jaroslav - Vičar, M. - Obrtlík, Karel - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín
AFM study of slip localization and surface relief evolution in fatigued ferritic X10CrAl24 stainless steel.
Fatigue Damage of Materials - Experiment and Analysis. Southampton: WIT Press, 2003 - (Varvani-Farahani, A.; Brebbia, C.), s. 193-203
[International Conference on Fatigue Damage of Materials - Experiment and Analysis /1./. Toronto (CA), 14.07.2003-16.07.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IPP1050128; GA ČR GA106/00/D055; GA ČR GA106/01/0376; GA AV ČR IAA2041201
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902; CEZ:AV0Z2041904
Klíčová slova: atomic force microscopy * persistent slip band * extrusion growth
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0074951 - 9.0092625 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Wandrol, Petr - Matějková, Jiřina - Rek, Antonín
High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope.
[Zobrazování s vysokým rozlišením pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
5th International Conference on Materials Structure and Micromechanics of Fracture. Abstract booklet. Brno: VUTIUM, 2007 - (Šandera, P.), s. 165. ISBN 978-80-214-3434-9.
[MSMF5 - Materials Structure and Micromechanics of Fracture /5./. Brno (CZ), 27.06.2007-29.06.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607; GA AV ČR KJB200650501
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * backscattered electrons * scintillation detector * high resolution
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152894 - 10.0092591 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šafářová, K. - Dvořák, A. - Kubínek, R. - Rek, Antonín - Vůjtek, M.
Research of Carbon Nanotubes by TEM, SEM and AFM Methods.
[Výzkum uhlíkových nanotrubek metodami TEM, SEM a AFM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 301-302. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: carbon nanotubes * TEM * SEM * AFM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152869