Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0518941 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
    Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Piňos, Jakub - Průcha, Lukáš
    Držák vzorku elektronového mikroskopu.
    [Electron microscope sample holder.]
    2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 04.12.2019. Číslo vzoru: 33509
    Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy, samples holder, UHV, bias, TEM grids Anotace v ČJ a AJ * samples holder * UHV * bias * TEM grids
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303942
     
     
  2. 2.
    0499073 - ÚPT 2019 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
    Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
    Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
    [A spectrometer of energies of very slow electrons.]
    2018. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 10.12.2018. Číslo vzoru: 32425
    Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0032/uv032425.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291356