Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0507132 - ÚPT 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    Transmission of very slow electrons as a diagnostic tool.
    NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2014, s. 503-508. ISBN 978-80-87294-47-5.
    [International Conference NANOCON 2013 /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: electron microscopy * slow electrons * STEM * graphene * ultrathin tissue sections
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Civil engineering (BC-A)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298349
     
     
  2. 2.
    0499701 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Sixty years of the Institute os Scientific Instruments.
    Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018. ISBN 978-80-87441-23-7.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron-microscopy * sem
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291922
     
     
  3. 3.
    0494373 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Creation of electron vortex beams using the holographic reconstruction method in a scanning electron microscope.
    Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 66-67. ISBN 978-80-87441-23-7.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron vortex beams * scanning electron microscopy * electron diffraction
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287630
     
     
  4. 4.
    0494365 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    STEM modes in SEM.
    Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 40-41. ISBN 978-80-87441-23-7.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * STEM
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287599
     
     
  5. 5.
    0494360 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Very low energy electron transmission spectromicroscopy.
    Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 14-15. ISBN 978-80-87441-23-7.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
    GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * electron microscopy * time of flight * electron energy lost spectroscopy
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287590
     
     
  6. 6.
    0481585 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    STEM modes in SEM – simulations and experiments.
    13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 140-141. ISBN 978-953-7941-19-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM detector * trajectory simulations * cathode lens * collection efficiency
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277129
     
     
  7. 7.
    0467260 - ÚPT 2017 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope.
    2nd Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORUM2). Toyama: University of Toyama, 2016, s. 29-30.
    [Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration /2./ (CAMRIC-FORUM2). Toyama (JP), 13.10.2016-14.10.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SLEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265401
     
     
  8. 8.
    0460211 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
    Difraction in a scanning electron microscopie.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * TEM * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260343
     
     
  9. 9.
    0460206 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Scanning transmission microscopy at very low energies.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 40-41. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260338
     
     
  10. 10.
    0460205 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mika, Filip - Konvalina, Ivo - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
    Bandpass filter for secondary electrons in SEM - experiments.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 36-37. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * TLD
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260337