Výsledky vyhledávání
- 1.0205561 - UPT-D 20020111 CZ eng A - Abstrakt
Škoda, D. - Lopour, F. - Kalousek, R. - Burian, D. - Spousta, J. - Matějka, František - Šikola, T.
Nanotechnology by SPM.
Proceedings of Nano '02 - national conference. Praha: Czech Society for New Materials, 2002 - (Švejcar, J.; Šandera, P.). s. 85. ISBN 80-7204-258-0.
[NANO'02. 19.11.2002-21.11.2002, Brno]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: nanotechnology * scanning probe microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101174 - 2.0205560 - UPT-D 20020110 CZ eng A - Abstrakt
Matějka, František - Ryzí, Z.
Electron beam lithography - a tool for nanotechnologies?
Proceedings of Nano '02 - national conference. Praha: Czech Society for New Materials, 2002 - (Švejcar, J.; Šandera, P.). s. 28. ISBN 80-7204-258-0.
[NANO'02. 19.11.2002-21.11.2002, Brno]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: nanotechnologies * electron beam lithography
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101173 - 3.0205294 - UPT-D 20000073 CZ cze A - Abstrakt
Lopour, F. - Škoda, D. - Matějka, František - Šikola, T.
Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM.
[The developement and application of the device for UHV SPM.]
2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. Praha: Spectroscopic Society of Johannes Marcus Marci, Sekce speciálních spektroskopických metod, 2000. s. 8.
[Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách /2./. 25.09.2000-27.09.2000, Lázně Bohdaneč]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100909 - 4.0205293 - UPT-D 20000072 CZ cze A - Abstrakt
Matějka, František - Matějková, Jiřina - Lopour, F.
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM.
[The posibilities of testing of metrics of the STM and AFM devices.]
2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. Praha: Spectroscopic Society of Johannes Marcus Marci, Sekce speciálních spektroskopických metod, 2000. s. 9.
[Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách /2./. 25.09.2000-27.09.2000, Lázně Bohdaneč]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100908 - 5.0204703 - UPT-D 950004 FR eng A - Abstrakt
Frank, Luděk - Matějka, František
Correction of the Edge Effect in Surface Analytical SEM.
Book of Abstracts of EMAS 95. St. Malo: EMAS, 1995. s. 343.
[EMAS '95 /4./ - Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis. 14.05.1995-19.05.1995, St. Malo]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100323 - 6.0053324 - ÚPT 2007 CZ eng A - Abstrakt
Ficek, R. - Kučerová, Z. - Zajíčková, L. - Vrba, R. - Eliáš, M. - Jašek, O. - Matějka, František - Matějková, Jiřina - Klapetek, P.
Carbon Nanotubes Synthesized by Plasma Enhanced CVD: Preparation for Measurement of Their Electrical Properties.
[Uhlíkové nanotrubice připravované plasmaticky buzeným procesem CVD: příprava pro měření jejich elektrických vlastností.]
22nd Symposium on Plasma Physics and Technology, Programme and Abstracts. Praha: ČVUT Praha, 2006. s. 84-85. ISBN 80-01-03506-9.
[Plasma Physics and Technology /22./. 26.06.2006-29.06.2006, Praha]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
Klíčová slova: PECVD * carbon nanotubes
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141631