Výsledky vyhledávání
- 1.0314874 - ÚPT 2009 US eng M - Část monografie knihy
Lencová, Bohumila
Electrostatic Lenses.
[Elektrostatické čočky.]
Handbook of Charged Particle Optics. New York: CRC Press, 1997 - (Orloff, J.), s. 177-221. ISBN 0-8493-2513-7
Klíčová slova: electron optics * design of microscopes * ion microscopes * applications of electrostatic lenses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165249 - 2.0314870 - ÚPT 2009 RIV US eng M - Část monografie knihy
Lencová, Bohumila
Electrostatic Lenses.
[Elektrostatické čočky.]
Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition. Boca Raton, New York: CRC Press, 2008 - (Orloff, J.), s. 161-208. ISBN 978-1-4200-4554-3
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron optics * design of microscopes * ion microscopes * applications of electrostatic lenses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165247 - 3.0205565 - UPT-D 20020115 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Lencová, Bohumila - Lenc, M.
Optika iontových svazků.
[Optics of ion beams.]
Medoty analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 67 - 103. ISBN 80-200-0594-3
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: ion optics * electric and magnetic fields
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101178 - 4.0205436 - UPT-D 20010076 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Lencová, Bohumila
Moderní fyzika.
[Modern Physics.]
Fyzika. Vol. 5. Brno: Vutium, 2000 - (Lencová, B.; Obdržálek, J.; Dub, P.), s. 1034-1198. ISBN 80-214-1868-0
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: photons and de Broglie's Waves
Kód oboru RIV: BE - Teoretická fyzika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101049 - 5.0204857 - UPT-D 960098 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Lenc, M. - Lencová, Bohumila - Eckertová, L. (ed.) - Frank, L. (ed.)
Optické prvky elektronových mikroskopů.
Praha: Academia, 1996. ISBN 80-200-0329-0. In: Metody analýzy povrchů - Elektronová mikroskopie a difrakce., s. 15-63
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100477