Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0353047 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
    Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy.
    Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.6:1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
    [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * FEM * Windows
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192397
     
     
  2. 2.
    0350661 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila
    Recent developments and improvements of EOD program.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 25-28. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * particle optics
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350661_01.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190601
     
     
  3. 3.
    0315455 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila
    Solving Complex Electron Optical Problems with EOD.
    [Řešení složitých elektronově optických problémů v EOD.]
    Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 65-68. ISBN 978-80-254-0905-3.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron optical design * electron mirror * hexapole corrector
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165654
     
     
  4. 4.
    0315453 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Numerical Simulations of Thermionic Electron Guns.
    [Numerické výpočty termoemisních elektronových trysek.]
    Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 51-52. ISBN 978-80-254-0905-3.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge * numerical simulations
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165652
     
     
  5. 5.
    0315085 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Accurate calculations of thermionic electron gun properties.
    [Přesné výpočty vlastností termoemisní elektronové trysky.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 557-558. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004856
     
     
  6. 6.
    0315084 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Radlička, Tomáš - Lencová, Bohumila
    Influence of tilt of sample on axial beam properties.
    [Vliv náklonění vzorku na vlastnosti osového svazku.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 599-600. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: parasitic aberration * misalignment aberrations
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004855
     
     
  7. 7.
    0315082 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Neděla, Vilém - Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Experimental and simulated signal amplification in variable pressure SEM.
    [Experimentální a simulované zesílení signálu v mikroskopu VP-SEM.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 587-588. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: VP-SEM * gas ionisation cascade * EOD * Monte-Carlo
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004853
     
     
  8. 8.
    0205615 - UPT-D 20020168 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Zlámal, J. - Jánský, P.
    Programs for design of systems in particle optics.
    International summer school: Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně: VUT, 2002, s. -.
    [Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně (CZ), 10.06.2002-15.06.2002]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: particle optics * ion beam implantation * electron optical design
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101228
     
     
  9. 9.
    0205500 - UPT-D 20020050 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila
    Is this BEM useful for the computation of magnetic lenses?
    Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 15 - 16. ISBN 80-238-8986-9.
    [Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: boundary element method * magnetic lenses
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101113
     
     
  10. 10.
    0205499 - UPT-D 20020049 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila
    Accuracy of potential computations with FOFEM.
    Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 13 - 14. ISBN 80-238-8986-9.
    [Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: electron optical computations
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101112
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.