Výsledky vyhledávání
- 1.0422380 - ÚPT 2014 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Novotný, Peter - Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 63.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * thin foils * electromagnetic fields * simulation of electron trajectories
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228525 - 2.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * image contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 3.0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: mapping dopants * semiconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006670 - 4.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006669 - 5.0353109 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Analysis of a combined electrostatic and magnetic objective lens.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 41. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: photoemission electron microscopy * low energy electron microscopy * EOD software
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006219 - 6.0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection systems * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160920 - 7.0109113 - UPT-D 20040118 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinností detektoru sekundárních elektronů v REM.
[Quantification of Detection Efficiency of a Secondary Electron Detector in SEM.]
PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. Brno: Ústav přístrojové techniky, 2004 - (Müllerová, I.), s. 31 - 38. ISBN 80-239-2268-8.
[PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika. Brno (CZ), 30.01.2004]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: Detection Efficiency * Secondary Electron Detector * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016225 - 8.0050988 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
[The quantification of the detection efficiency of the secondary electron detector in SEM.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 25-28. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140990 - 9.0022846 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Sběrová účinnost ET detektoru sekundárních elektronů v REM.
[The collection efficiency of the ET detector of the secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 13.
[Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111556 - 10.0022562 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinností detektoru sekundárních elektronů v REM.
[The quantification of the detection efficiency of the secondary electron detector in SEM.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 31-34. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111290