Výsledky vyhledávání

0335266 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Čudek, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 221-222. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scintillation SE detector * variable pressure SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/95710.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179776

0315080 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, Josef - Černoch, P. - Neděla, Vilém - Špinka, J.
Scintillation SE Detector for Variable Pressure Scanning Electron Microscope.
[Scintilační detektor sekundárních elektronů pro vysokotlaký rastrovací elektronový mikroskop.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 559-560. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VPSEM * secondary electrons detector * scintillatíon detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004851

0205510 - UPT-D 20020060 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, Josef - Autrata, Rudolf - Špinka, Jiří
Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber.
Proceedings of the 8^th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 55 - 56. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * higher pressures * surface negative charge
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101123

0205508 - UPT-D 20020058 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Romanovský, Vladimír - Špinka, Jiří
Combined detector for BSE, SE and BSE+SE detection in a low voltage SEM.
Proceedings of the 8^th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 49 - 50. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: low accelerating voltage * electrons beam * Everhart-Thornley
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101121

0205411 - UPT-D 20010051 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Michálek, Martin - Jirák, Josef
Modified Configuration of Ionization Detector for Environmental SEM.
Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce: Rinton Press, 2001 - (Dini, L.; Catalano, M.), s. 529-530. ISBN 1-58949-003-7.
[MCEM '01 /5./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce (IT), 20.09.2001-25.09.2001]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: environmental scanning electron microscopy * non-conductive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101025