Výsledky vyhledávání
- 1.0459102 - ÚPT 2017 RIV HR eng M - Část monografie knihy
Frank, Luděk
Scanning Electron Microscopy with a Retarded Primary Beam.
Modern Electron Microscopy in Physical and Life Sciences. Rijeka: InTech, 2016 - (Janeček, M.; Král, R.), s. 49-78. ISBN 978-953-51-2252-4
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * slow electrons * electron microscopy of materials * biomedical eletron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259355
- 2.0205712 - UPT-D 20030095 RIV US eng M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Scanning low energy electron microscopy.
Advances in imaging and electron physics Vol. 128. New York: Elesevier Science, 2003 - (Hawkes, P.), s. 309 - 443
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscope * low energy SEM * low energy electron beams
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101325
- 3.0205556 - UPT-D 20020106 RIV US eng M - Část monografie knihy
Frank, Luděk
Advances in scanning electron microscopy.
Advances in Imaging and Electron Physics., s. 327 - 373
Grant CEP: GA ČR GA202/99/0008
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * electron optics * instrumens for study of surfaces
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101169
- 4.0204858 - UPT-D 960099 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Frank, Luděk - Eckertová, L. (ed.) - Frank, L. (ed.)
Klasické metody analytické elektronové mikroskopie: zobrazování Augerovými elektrony a charakteristickým rtg zářením.
Praha: Academia, 1996. ISBN 80-200-0329-0. In: Metody analýzy povrchů - Elektronová mikroskopie a difrakce., s. 93-157
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100478
- 5.0094363 - ÚPT 2008 RIV ES eng M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy.
[Rastrovací elektronová mikroskopie na velmi nízkých energiích.]
Modern Research and Educational Topics in Microscopy. Vol. 2. Badajoz: Formatex, 2007 - (Méndez-Vilas, A.; Diaz, J.), s. 795-804. Microscopy series, 3. ISBN 978-84-611-9420-9
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron optics * scanning electron microscopy * low energy electrons * cathode lens mode * surfaces
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154189