Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna-Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
    Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
    [Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
    Interní kód: APL-2020-11 ; 2020
    Technické parametry: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314400
     
     
  2. 2.
    0536443 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Radlička, Tomáš - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
    Elektrostatický tubus pro 2D detekci v UHV systému (mimo-osový pixelový detektor).
    [Electrostatic column for 2D detection in UHV system (off-axis pixelated detector).]
    Interní kód: APL-2020-06 ; 2020
    Technické parametry: Funkční vzorek projekčního elektrostatického tubusu tvoří tři elektrostatické multipólové korektory, jedna rotačně symetrická elektrostatická čočka, stínítko, řídící elektronika s programovatelnými napěťovými zdroji a kabeláž. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností projekčního elektrostatického tubusu v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * electrostatic column * multipole corrector * electrostatic lens * 2D detection
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314219
     
     
  3. 3.
    0499074 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
    Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
    [Spectrometer of energies of very slow electrons.]
    Interní kód: APL-2018-13 ; 2018
    Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce spektrometru energií velmi pomalých elektronů na principu doby průletu. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů preparát, první elektrodu, transportní tubus, druhou elektrodu, driftovou trubici s elektromagnetickým stíněním a detektor. Preparátem je velmi tenká vrstva libovolného technického materiálu o tloušťce v jednotkách nanometrů, kterou je možné prosvítit velmi pomalými elektrony o energii 100 eV a méně. Dominantní volbou preparátů jsou dvourozměrné krystaly o tloušťce nanejvýš několika atomových vrstev, např. grafén.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: RNDr. Luděk Frank, DrSc., ludek@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291357
     
     
  4. 4.
    0379940 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
    Detektor krystalografického kontrastu s vysokým rozlišením pro zobrazování velmi pomalými elektrony.
    [Detector of high resolution crystallographic contrast for the imaging with very low energy electrons.]
    Interní kód: BSE13 ; 2012
    Technické parametry: Detektor krystalografického kontrastu pro zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony, který má vysokou sběrovou účinnost pro široký úhlový rozsah signálních elektronů.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * crystallographic contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210786
     
     
  5. 5.
    0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
    Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
    [Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
    Interní kód: PP-13 ; 2012
    Technické parametry: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210785
     
     
  6. 6.
    0336646 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Frank, Luděk - Klein, Pavel
    Ultra-vysoko-vakuový scintilační detektor zpětně odražených elektronů.
    [The ultra-high-vacuum scintillation detector of reflected electrons.]
    Interní kód: 5511-3 ; 2009
    Technické parametry: Destička z monokrystalu YAG aktivovaného cérem o vnějším průměru 10 mm s centrálním otvorem 0,3 mm, plochý křemenný světlovod k vakuové stěně, optický spoj bez tmelu (vypékatelnost do 160C), vysouvatelný o 60+-5 mm, centrovatelný +-2 mm ve třech směrech
    Ekonomické parametry: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací, je experimentálně odzkoušen delším zkušebním provozem, je vhodný pro UHV mikroskopy s velmi nízkou energií dopadu elektronů.
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SLEEM * detector of slow electrons * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180835
     
     
  7. 7.
    0047353 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Methodology of slow electron microscopy with cathode lens.
    [Metodika mikroskopie pomalými elektrony s katodovou čočkou.]
    Interní kód: SLEEM ; 2005
    Technické parametry: Metodika rastrovací elektronové mikroskopie elektrony o libovolně nízké energii s vysokým rozlišením obrazu, realizovaná pomocí tzv. katodové čočky.
    Ekonomické parametry: Podstatné rozšíření zobrazovacích možností rastrovacího elektronového mikroskopu, získání nových typů obrazových kontrastů.
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: low energy electron microscopy * nano-diagnostics
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138285
     
     
  8. 8.
    0047352 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
    El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Electron detectors.
    [Elektronové detektory.]
    Interní kód: EDUS ; 2003
    Technické parametry: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
    Ekonomické parametry: Patent číslo US 6,570,163: platnost patentu pro USA
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: electron detectors * low energy electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138284
     
     
  9. 9.
    0047351 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
    El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Electron detectors.
    [Elektronové detektory.]
    Interní kód: EDEUR ; 2006
    Technické parametry: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
    Ekonomické parametry: Patent číslo EP1012867: platnost patentu pro DE, FR, GB, NL
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron detectors * low energy electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138283
     
     
  10. 10.
    0047349 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
    [Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope.]
    Interní kód: DETEFF ; 2005
    Technické parametry: Metoda objektivního hodnocení a postup měření kvantové detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu ve statickém režimu stabilního signálu a procedura vyhodnocení časové odezvy detektoru na signálový skok.
    Ekonomické parametry: Metoda umožňuje objektivní srovnání různých konfigurací detektorů a rovněž vyhodnocování efektu konstrukčních změn a inovací.
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron detectors * scanning electron microscope * detective quantum efficiency * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138282