Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0204737 - UPT-D 950040 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Adamec, Pavel - Bauer, E.
    New Design of Low Energy Electron Microscope.
    Proceedings of Multinational Congress on Electron Microscopy. Bratislava: Slovak Academic Press, 1995, s. 109-110.
    [MCEM '95 - Multinational Congress on Electron Microscopy. Stará Lesná (SK), 16.10.1995-20.10.1995]
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100357
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.