Výsledky vyhledávání
- 1.0303430 - URE-Y 990003 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Starý, V. - Olšovec, P. - Jurek, Karel - Peřina, Vratislav - Kohout, Jindřich
O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev GaxIn1-xAsyP1-y na podložce InP.
[Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of GaxIn1-xAsyP1-y/InP thin films.]
Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1996. In: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků. - (Lesňák, M.; Luňáček, J.; Pištora, J.), s. 515-517
[Konference českých a slovenských fyziků /12./. Ostrava (CZ), 02.09.1996-06.09.1996]
Klíčová slova: epitaxial layers * thin films * III-V semiconductors * electron probe analysis
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113648 - 2.0185809 - UJF-V 20033133 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Peřina, Vratislav - Macková, Anna - Červená, Jarmila - Havránek, Vladimír - Voseček, Václav - Hnatowicz, Vladimír - Vacík, Jiří
Měření povrchových vrstev kombinací jaderných analytických metod.
[Analysis of surface layers by combining of nuclear methods.]
Sborník příspěvků. Plzeň, 2002, s. 351-356.
[Konference českých a slovenských fyziků /14./. Plzeň (CZ), 09.09.2002-12.09.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Klíčová slova: RBS * ERDA * PIXE
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0082173