Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0449865 - FZÚ 2016 RIV CZ cze L3 - Certifikované metodiky
    Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk
    Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu bóru v Si deskách.
    [Methodology of not destructive determination of boron concentration profile in Si wafers.]
    Interní kód: SVMB_SOL_01 ; 2012
    Technické parametry: Komercionalizace metodiky se nepředpokládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro difúzi bóru včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách.
    Ekonomické parametry: Komercionalizace metodiky se nepředpokládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro difúzi bóru včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách křemíkových solárních článků do vysokoteplotních pecí SVFur společně s metodikami pro přípravu substrátů a vytváření těchto vrstev se předpokládá 12% nárůst prodeje v segmentu difuzních reaktorů pro dopování bórem společností SVCS Process Innovation s.r.o.
    Certifikační orgán: SVCS Process Innovation s.r.o., Optátova 37, Brno 637 00, Česká republika. Datum certifikace: 10.12.2012
    Grant CEP: GA TA ČR TA01020972
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon substrate * boron concentration profile * IR reflection * UV ellipsometry
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251279
     
     
  2. 2.
    0449834 - FZÚ 2016 RIV CZ cze L3 - Certifikované metodiky
    Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk
    Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu fosforu v Si deskách.
    [Methodology of not destructive determination of phosphorus concentration profile in Si wafers.]
    Interní kód: SVMP_SOL_01 ; 2012
    Technické parametry: V tomto dílčím úkolu bylo cílem dopracovat bezkontaktní a rychlou metodu určování difúzních profilů, jakožto možnou charakterizační metodu pro sledování difúzních profilů a prostorové homogenity.
    Ekonomické parametry: Komercionalizace metodiky se nepředpkládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro fosforovou difúzi včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách křemíkových solárních článků do vysokoteplotních pecí SVFur společně s metodikami pro přípravu substrátů a vytváření těchto vrstev se předpokládá 12% nárůst prodeje v segmentu difuzních reaktorů pro dopování fosforem společností SVCS Process Innovation s.r.o.
    Certifikační orgán: SVCS Process Innovation s.r.o., Optátova 37, Brno 637 00, Česká republika. Datum certifikace: 10.12.2012
    Grant CEP: GA TA ČR TA01020972
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon substrate * phosphorus concentration profile * IR reflection * IR ellipsometry
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251276
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.